Agilent光學(xué)反射儀器儀表
美國(guó)Agilent,Agilent光時(shí)域反射計(jì),Agilent光時(shí)域反射儀
美國(guó)Agilent公司,專業(yè)生產(chǎn)光學(xué)反射儀器儀表,為確認(rèn)網(wǎng)絡(luò)的完好性和在潛在問(wèn)題演變成故障以前進(jìn)行有效識(shí)別,您需要快速獲得準(zhǔn)確信息。同時(shí),為了面對(duì)不斷增長(zhǎng)的市場(chǎng)壓力,您需要完整可信的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)以便隨時(shí)規(guī)劃新的業(yè)務(wù)。
Agilent公司提供可以按所需測(cè)試距離、速度和精度對(duì)光纖進(jìn)行測(cè)量和文檔管理的快速、簡(jiǎn)便、精確的測(cè)試和監(jiān)測(cè)方案,幫助您在各種光纖網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)測(cè)試業(yè)務(wù)上取得成功。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
·測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍從18dB、26dB、30dB、35dB直至zui大45dB
·高速測(cè)試可節(jié)省大量時(shí)間
·高精度測(cè)試便于在網(wǎng)絡(luò)各個(gè)細(xì)小部分進(jìn)行特性分析
·高距離分辨率和小的事件和衰減盲區(qū)
·多種測(cè)試模塊和功能子模塊任意組合
·使用OTDR加多波長(zhǎng)計(jì)或光譜分析儀構(gòu)成DWDM(密集波分復(fù)用)測(cè)試方案
·所有的測(cè)試模塊在所選波長(zhǎng)上都具有連續(xù)光源的功能
·*的交通探測(cè)功能自動(dòng)探測(cè)并保護(hù)對(duì)端光端機(jī)不受損壞
·友好的中文操作界面和中文在線幫助
·單鍵操作便于快速自動(dòng)測(cè)試和分析
·交流和電池操作任意選擇
·輕巧、堅(jiān)固、便攜的結(jié)構(gòu)使儀表在各種環(huán)境下均方便使用
技術(shù)指標(biāo):
模塊——所有單模模塊 所有多模模塊
事件盲區(qū):5m 3m@5ns;衰減盲區(qū):10m@1310nm/12m@1550nm/14m@1625nm 10m@10ns;
距離準(zhǔn)確度偏移誤差:刻度誤差 采樣誤差:±1m ±10^-4 ±0.5采樣間隔;
損耗/反射系數(shù)準(zhǔn)確度 背向散射風(fēng)險(xiǎn)
反射系數(shù)測(cè)量:±0.05dB,±2.0dB
橫軸參數(shù)——起點(diǎn):0Km - 400Km(可非0);讀數(shù)分辨: 0.1m;zui小采樣間隔:8cm
縱軸參數(shù)—— 數(shù)分辨率:0.001dB;
自動(dòng)設(shè)置和分析功能:提供 儀器設(shè)置:可儲(chǔ)存和調(diào)用用戶自定義設(shè)置
光接口——光連接器:(選件)HMS-10,F(xiàn)C/PC,DIN 47256,ST,F(xiàn)C/APC,雙錐面,SC等用戶可任意更換。