RLE-SA04 紅外熱像與熱輻射測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)介
紅外熱像技術(shù)已經(jīng)在電力系統(tǒng)、土木工程、汽車、冶金、石化、醫(yī)療等諸多行業(yè)得到廣泛應(yīng)用。本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)緊扣教學(xué)核心知識(shí)點(diǎn),并結(jié)合工程實(shí)際應(yīng)用,通過(guò)光電轉(zhuǎn)換、信號(hào)處理等手段,檢測(cè)目標(biāo)物體輻射與溫度分部之間的對(duì)應(yīng)聯(lián)系,并將之轉(zhuǎn)換為圖像信息,從而直觀的實(shí)現(xiàn)目標(biāo)物輻射測(cè)量。旨在讓學(xué)生理解并掌握熱輻射的基本定律,以及紅外成像的工作原理和測(cè)量方法,是光電相關(guān)專業(yè)理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、黑體輻射特性研究實(shí)驗(yàn);
2、驗(yàn)證維恩位移定律;
3、熱發(fā)射率影響因素研究實(shí)驗(yàn);
4、熱發(fā)散率的測(cè)量。
知識(shí)點(diǎn)
普朗克輻射定律、斯特潘-波爾茲曼定律、維恩位移、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)制函數(shù)、溫度分辨率、最小可分辨溫差、光電轉(zhuǎn)換。
選配設(shè)備參數(shù)
計(jì)算機(jī)(基本配置)。
主要設(shè)備參數(shù)
1.黑體標(biāo)準(zhǔn)源:
工作溫度: 0~50℃,傳感器: Pt100鉑電阻,控溫方式: PID,電源電壓:220V,溫度范圍:室溫-60℃,分辨率: 0.1℃,發(fā)射率: >0.97,升溫時(shí)間:100℃≤30分鐘。
2.紅外熱像儀:
探測(cè)器類型:光讀出非制冷焦平面,分辨率: 80×60,波長(zhǎng)范圍: 7.5~14um,視場(chǎng)角: 41°×31°,熱靈敏度(NETD): <0.1℃,調(diào)焦方式:免調(diào)焦,幀頻: 9Hz,測(cè)溫范圍: -10℃~+150℃,精度: ±2℃或±2%,取較大值,輻射率校正: 0.1至1.0可調(diào),背景溫度校正;根據(jù)輸入環(huán)境溫度自動(dòng)校正;工作溫度: -10℃~+50℃,存儲(chǔ)溫度: -20℃~+60℃,濕度:相對(duì)濕度≦85%(非冷凝);觸摸屏:熱圖像:可見光圖像: MSX多波段動(dòng)態(tài)成像;圖庫(kù)。
3.電路修復(fù)裝置:
發(fā)熱異常探測(cè)與修復(fù),發(fā)熱異常溫度: 30℃~60℃。
4.發(fā)熱待測(cè)裝置:
驅(qū)動(dòng)電壓40V,發(fā)熱面積: 16cm2,設(shè)置溫度范圍:室溫~60℃,可達(dá)400℃。
5.濾光器:
HR@380nm~780nm, AR@7μm~14μm; AR@380nm~780nm, HR@7μm~14μm。
6.精密光學(xué)導(dǎo)軌:
L×W=600mm×90mm,配套滑塊,調(diào)節(jié)支座、支桿。
7.實(shí)驗(yàn)手冊(cè)及保修卡。