Sphere-3000 光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x
Sphere3000是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀,能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。
Sphere3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x-特點(diǎn):
Ø 顯微測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率 物鏡對(duì)焦于被測(cè)物微小區(qū)域(φ60μm)
Ø CIE顏色測(cè)定 X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長(zhǎng)等
Ø 檢測(cè)速度快 高性能探測(cè)器,能在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性高的測(cè)定
Ø 消除背面反射光 無(wú)需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定表面反射率
Sphere3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x-技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | Sphere-3000(I型) | Sphere-3000(III型) |
檢測(cè)范圍 | 380~800nm | 360~1100nm |
波長(zhǎng)分辨率 | 1nm | 1nm |
相對(duì)檢測(cè)誤差 | ﹤1% | ﹤0.5% |
測(cè)定方法 | 與標(biāo)準(zhǔn)物比較測(cè)定 | |
被測(cè)物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) | ±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~1100nm) |
單次測(cè)量時(shí)間 | ﹤1s | |
精度 | 0.3nm | |
被測(cè)物N.A. | 0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 0.24(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) | |
被測(cè)物尺寸 | 直徑> 厚度> 厚度> | |
被測(cè)物 測(cè)定范圍 | 約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) | |
設(shè)備重量 | 約 | |
設(shè)備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |
使用環(huán)境 | 水平且無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所 溫度:23± 濕度:60%以下、無(wú)結(jié)露; | |
操作系統(tǒng) | Windows XP, Windows Vista,Win7 | |
軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測(cè)定 | |
尺寸 | 480*400* |