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高低溫冷熱沖擊溫循箱

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)ap-cj
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2022/10/19 12:50:32
  • 訪問次數(shù)768
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東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司主要生產(chǎn)與售的產(chǎn)品有:交變濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱、紫外光試驗(yàn)箱、氙燈老化箱恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室、沙塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱鹽水噴霧試驗(yàn)箱、各種振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)拉力試驗(yàn)機(jī)、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī)、插拔力試驗(yàn)機(jī)、按健壽命試驗(yàn)機(jī)紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、工業(yè)烘烤箱等模擬環(huán)境檢測試驗(yàn)設(shè)備系列產(chǎn)品。本公司引進(jìn)國外的*技術(shù)和工藝,在國內(nèi)外同行業(yè)中處于 ,并在電子儀表、化工、通訊、光電、電子、半導(dǎo)體、實(shí)驗(yàn)室等工業(yè)域具有廣泛的應(yīng)用市場。




恒溫恒濕箱、高低溫箱、紫外老化箱、冷熱沖擊箱
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
降溫速率 1 升溫速率 3
高低溫冷熱沖擊溫循箱風(fēng)冷一臺(tái)可以恒定定值或可編程,如單做高溫沖擊及低溫沖擊試驗(yàn)時(shí)可做定值,如高低溫沖擊一起則用編程循環(huán)試驗(yàn)。愛佩科技生產(chǎn)的兩箱式低溫試驗(yàn)沖擊機(jī)|高低溫試驗(yàn)沖擊箱控制器OYO9226S*多120 程度,2個(gè)段. 每一個(gè)命令可達(dá)999次; 程式段時(shí)間設(shè)定0~99Hour59Min。三箱式低溫試驗(yàn)沖擊機(jī)|高低溫試驗(yàn)沖擊箱控制器OYO9226S*多120 程度,3個(gè)段.
高低溫冷熱沖擊溫循箱 產(chǎn)品信息

高低溫冷熱沖擊溫循箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器,PCB連接器,F(xiàn)PC,電感器,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,太陽能組件,光伏組件,光纖,LCD,PCB,F(xiàn)PC,微電子,電機(jī),汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。

制冷低溫區(qū)

溫度暴露范圍

0℃/-65℃

預(yù)熱溫度下限

-75

溫度波動(dòng)范圍

≤±0.5

溫度降溫時(shí)間

-75℃≤60min

加熱高溫區(qū)

溫度暴露范圍

60℃~150℃

預(yù)熱溫度上限

200℃

溫度波動(dòng)范圍

≤±0.5

溫度上升時(shí)間

室溫200℃≥45min

性能指標(biāo)

溫度測試范圍可選

A:-40℃~150℃ B:-40℃~150℃C:-65℃~150℃

溫度均勻動(dòng)

高溫室及低溫室均≤±2℃

樣品區(qū)承重

30kg

30kg

30kg

溫度運(yùn)行控制系統(tǒng)

主要控制器

日本/韓國/中國臺(tái)灣(可選擇)進(jìn)口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成控制器

精度范圍

設(shè)定浮動(dòng)度:溫度±0.2℃,指示精度:溫度±0.1℃,分辨率:0.01℃

制冷系統(tǒng)

進(jìn)口德國比澤爾半封閉水冷式壓縮機(jī)組原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷壓縮制冷機(jī)組

循環(huán)系統(tǒng)

耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間

制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S

溫度恢復(fù)時(shí)間

≤5min(冷熱溫度沖擊機(jī)|高低溫溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)的恢復(fù)時(shí)間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān))

高低溫冷熱沖擊溫循箱本設(shè)備滿足:GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。


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