高溫高濕測(cè)試箱

高溫高濕測(cè)試箱適用于所有工業(yè)產(chǎn)品或原材料做高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電工電子、航空航天、汽車(chē)摩托、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫恒定或（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

高溫高濕測(cè)試箱技術(shù)參數(shù)：

一、工作室尺寸:500×600×500mm（W×H×D）更多尺寸可以選擇請(qǐng)咨詢業(yè)務(wù)員索取產(chǎn)品介紹目錄或者報(bào)價(jià)。

二、溫度范圍：

   1.溫度范圍:  0℃～150℃；-20℃～150℃；-40℃～150℃；-70℃～150℃（可任意選擇與設(shè)定）

三、升降溫時(shí)間：

   1. RT+10℃→150℃      約40分鐘（非線性空載，約3℃/分鐘）

   2. RT+10℃→-70℃      約90分鐘（非線性空載，約1℃/分鐘）

四、溫度誤差：

   1.解析精度：溫度：±0.1℃    

   2.控制精度：溫度:±0.3℃  

   3.分布精度溫度: ±1.0℃     100℃～150℃時(shí):±1.5℃

滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則