功能特點(diǎn):
◆優(yōu)化的微區(qū)分析測(cè)試儀器
◆根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng),可以對(duì)100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析
◆*的能量強(qiáng)度,從而實(shí)現(xiàn)出色的精度
◆即使對(duì)于薄鍍層,測(cè)量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
◆只適用于平面的或是接近平面的樣品
◆底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
◆通過快速、可編程的 XY 工作臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
◆測(cè)量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
◆測(cè)量細(xì)小部件和細(xì)電線上的鍍層系統(tǒng)
◆分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分