國(guó)產(chǎn)LS225分體式涂層測(cè)厚儀是一款主機(jī)與探頭分離的涂鍍層測(cè)厚儀,由LS225多探頭涂鍍層測(cè)厚儀主機(jī)與F500探頭組成。用于檢測(cè)鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的鍍銅,鍍鋅,鍍錫,鍍鉻以及涂料、清漆、搪瓷等非磁性涂鍍層。儀器具有超高的測(cè)量精度和重復(fù)性,可用于測(cè)量10μm以下的超薄涂鍍層厚度測(cè)試。
國(guó)產(chǎn)LS225分體式涂層測(cè)厚儀特別適用于測(cè)試小尺寸材料,最小測(cè)量區(qū)域直徑小至7毫米。提供專(zhuān)用的手壓測(cè)試機(jī)架供用戶(hù)選購(gòu),對(duì)于超薄涂鍍層或異形小尺寸材料,使用專(zhuān)用手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試,數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)穩(wěn)定,尤其適合螺釘,螺栓等小工件以及各種異型材料的薄鍍層厚度測(cè)量。
主機(jī)參數(shù)
顯示 | 240×160點(diǎn)陣LCD |
供電方式 | 4節(jié) 1.5V AAA堿性電池 |
工作溫度范圍 | 0℃-50℃ |
存儲(chǔ)溫度范圍 | -20℃-60℃ |
主機(jī)尺寸 | 148*76*26 mm |
重量(含電池) | 194g |
探頭參數(shù)
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) |
基體材料 | 鐵磁性金屬 |
測(cè)量范圍 | 0.0-500μm |
分辨率 | 0.1μm:(0μm - 99.9μm) 1μm:(100μm - 500μm) ≤±(0.1μm+0.8%) 手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試 |
重復(fù)性 | ≤±(0.8%讀數(shù)+0.1μm) 手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試 |
測(cè)量精度 | ±(2%讀數(shù)+0.3μm) 五點(diǎn)校準(zhǔn) |
單位 | μm / mil |
測(cè)量間隔 | 1.5s |
最小測(cè)量區(qū)域 | ?=7mm |
最小曲率半徑 | 凸面1.5mm, 凹面10mm |
最小基體厚度 | 0.1mm |
用戶(hù)校準(zhǔn) | 支持零點(diǎn)校準(zhǔn),1點(diǎn)到5點(diǎn)校準(zhǔn) |
探頭尺寸 | 長(zhǎng)110mm×直徑15mm(不包括連線(xiàn)) |
探頭重量(含電池) | 81g |