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光波動場三次元顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地蘇州市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/10/15 7:25:22
  • 訪問次數(shù)49
產(chǎn)品標簽:

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  大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。


  以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎, 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源?照明 相關(guān)方面,對研究機構(gòu)、各個廠家的銷售量在逐步擴大。


  在中國的蘇州有設立售后服務點,為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。


  我公司的母公司日本大塚電子集團,隸屬于大冢集團, 一直以來都謹守大冢集團 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢 為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品), 不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,為社會作出貢獻。

納米粒度儀,Zeta電位儀,膜厚儀
MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
光波動場三次元顯微鏡 產(chǎn)品信息

特點

可評價nm級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦,可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置


規(guī)格

分辨率 x , y 6 9 1n m( 一次拍照)、4 8 8 n m( 合成)
視野 x , y 7 0 0×7 0 0μm
分辨率 z
視野 z
樣品尺寸 10 0×8 0×t 2 0 mm(安裝通用樣品架時)
樣品臺 微動X Y樣品臺(自動)
X:±10 mm Y:±10 mm
粗動樣品臺
X:12 9 mm Y:8 5 mm
激光 波長 6 3 8 nm
輸出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 對測量樣品的照射強度)
尺寸(長×寬×高)mm 本體:5 0 5(W)×6 3 0(D)×4 3 9(H) ± 2 0 m m
※不含P C、附屬品
重量 41k g
功耗 本體:2 9 0 VA
※不含P C、附屬品

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測量例

將肉眼無法看見的透明薄膜表面可視化?定量化

可以非接觸、非破壞性、非侵入性地獲得nm級的形狀信息。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息,可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數(shù)值化實現(xiàn)可視化。

MINUK海報__03.jpg

觀察透明薄膜內(nèi)部的填充劑

肉眼無法看到的透明薄膜內(nèi)部的填充劑,通過一次拍照即可觀察到。此外,通過在測量后改變深度方向的焦點,可以識別到各個深度的填充劑。
MINUK海報__06.jpg

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