產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
用途
非常適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。
●新型功能材料領(lǐng)域
- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹(shù)枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
- 無(wú)機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機(jī)顏料）
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
●半導(dǎo)體領(lǐng)域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
●聚合物/化工領(lǐng)域
- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過(guò)程控制和紙漿添加劑研究
●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測(cè)
- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機(jī)能性檢測(cè)
粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
通過(guò)光子相關(guān)法分析這種波動(dòng)，就可以求得粒度和粒度分布。
分析流程
zeta電位測(cè)量原理：電泳光散射法 （激光多普勒法）
電泳散射法將光照射在泳動(dòng)中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱(chēng)之為激光多普勒（Laser Doppler）法。
實(shí)測(cè)電滲流的優(yōu)點(diǎn)
電滲流是指在zeta電勢(shì)測(cè)量期間cell內(nèi)發(fā)生的溶液流。當(dāng)cell壁表面 帶電時(shí)，溶液中的抗衡離子會(huì)聚集在cell 壁表面上。當(dāng)施加電場(chǎng)時(shí)， 抗衡離子以相反的符號(hào)移動(dòng)到電極側(cè)，并且在cell 的中心附近發(fā)生 反向流動(dòng)以補(bǔ)償流動(dòng)。 通過(guò)實(shí)際測(cè)量顆粒的表觀(guān)電泳遷移率并分析電滲流，可獲得考慮到 cell 污染（例如樣品的吸附和沉降）的影響的正確的靜止面面，并可獲得真實(shí)的zeta電勢(shì)/電泳遷移率。（森?岡本公式參照）
森·岡本公式
充分考慮電滲流后進(jìn)行樣品池內(nèi)泳動(dòng)速度的解析
z:距單元中心位置的距離
Uobs（z）：在單元中位置z處的表觀(guān)遷移率
A=1/[（2/3）-（0.420166/k）]
k=a/b:2a和2b是電泳單元截面的橫和縱的長(zhǎng)度
上方向：粒子的真實(shí)遷移率
U0:單元上下壁面的平均遷移率
⊿U0:單元上下壁面的遷移率差
電滲透流應(yīng)用于多成分解析
ELSZ Series通過(guò)實(shí)測(cè)樣品內(nèi)多點(diǎn)觀(guān)察到的電泳移動(dòng)度，可以確認(rèn)測(cè)量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。
固體平板樣品池的應(yīng)用
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。
實(shí)測(cè)樣品池高度方向各層觀(guān)測(cè)粒子的電泳移動(dòng)度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進(jìn)而求得平板樣品表面的ZETA電位。
高濃度樣品池的測(cè)量原理
對(duì)于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELSZ series很難測(cè)量到所需結(jié)果。
但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標(biāo)準(zhǔn)樣品池的測(cè)量范圍擴(kuò)大，可測(cè)量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過(guò)采用FST法的高濃度樣品池可測(cè)量高濃度樣品領(lǐng)域的ZETA電位。
測(cè)定項(xiàng)目
●Zeta電位
●粒徑
參數(shù)
測(cè)量原理 | 粒徑 | 動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
分子量 | 靜態(tài)光散射法 | |
光學(xué)系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學(xué)系統(tǒng) |
ZETA電位 | 外差光學(xué) | |
分子量 | 零差光學(xué)系統(tǒng) | |
光源 | 高功率半導(dǎo)體激光器 | |
探測(cè)器 | 高靈敏度APD | |
樣品池單元 | ZETA電位：標(biāo)準(zhǔn)池 微量一次性池或濃縮池 | |
粒度/分子量：方形池 | ||
溫度 | 0~90℃（帶溫度梯度功能） | |
電源 | 220V ± 10% 250VA | |
尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
重量 | 22Kg | |
測(cè)量范圍
ZETA電位 | No effective limitations（無(wú)有效上限） |
電氣移動(dòng)度 | -2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s |
粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
●對(duì)應(yīng)范圍
測(cè)量溫度范圍 | 0~90℃ |
測(cè)量濃度范圍 | Zeta電位：0.001～40% 粒徑：0.00001%（0.1ppm)~40%*1 |
*1（標(biāo)準(zhǔn)粒子： 0.00001 ～ 10%、?；撬?/span>： ～ 40%）
標(biāo)準(zhǔn)樣品池套件
可測(cè)量粒子徑與ZETA電位電位的樣品池套件
粒徑測(cè)量套件
可測(cè)量粒徑的樣品池套件，可使用市面上的四角樣品槽
測(cè)量示例
高濃度、大范圍粒徑范圍的測(cè)量
寬濃度范圍內(nèi)zeta電位粒徑測(cè)量
可以測(cè)量濃度范圍為0.00001%（0.1ppm）的稀溶液到40%的濃溶液對(duì)應(yīng)的粒徑和ζ電位。
選項(xiàng)
分子量測(cè)定功能
使用靜態(tài)光散射法可以進(jìn)行分子量的測(cè)定以及第二利比亞系數(shù)的分析
粒徑多角度測(cè)量功能
通過(guò)從正面、側(cè)面和背面三個(gè)角度進(jìn)行測(cè)量和分析，我們提供了具有更高分辨率的粒徑分布。
無(wú)法通過(guò)1角測(cè)度量分離的樣品也可以通過(guò)3角度測(cè)量和分析分離為多個(gè)峰。
粒子濃度測(cè)定功能
微流變學(xué)測(cè)量
通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射使能夠測(cè)量諸如聚合物和蛋白質(zhì)之類(lèi)的軟結(jié)構(gòu)的粘彈性。
凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析
通過(guò)測(cè)量凝膠樣品在多個(gè)點(diǎn)的散射強(qiáng)度和擴(kuò)散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。
zeta電位平板單元/ zeta電位微小平板單元
能夠測(cè)定平板狀或薄膜狀試樣表面zeta電位的單元也可在高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。
●易于組裝的結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了不使用螺絲的結(jié)構(gòu)
●配備簡(jiǎn)易的涂層，客戶(hù)可自行進(jìn)行涂層
●支持小尺寸樣品，10X10mm
ZETA電位微量可拋式Cell unit
可微量（130uL~）測(cè)量ZETA電位的Cell unit
ZETA電位濃厚Cell unit
可測(cè)量濃厚懸濁樣品的ZETA電位的Cell unit
ZETA電位低介電常數(shù)Cell unit
可以測(cè)量非極性溶液的ZETA電位cell unit
也可對(duì)應(yīng)介電常數(shù)在10以下的溶劑
粒徑超微量玻璃Cell unit
可微量（3uL~）測(cè)量粒徑的Cell unit
pH滴定儀（ELSZ-PT）
可自動(dòng)測(cè)量隨著不同pH值或添加劑濃度的粒徑/ZETA電位變化。
可以和Zeta電位平板樣品Cell相連。
可通過(guò)自動(dòng)測(cè)量等電點(diǎn)縮短工作時(shí)間。
高感度示差折射儀（DRM-3000）
實(shí)測(cè)解析分子量時(shí)的參數(shù)dn/dc
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