低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)

1. 系統(tǒng)配置：Acer 商用計(jì)算機(jī)，信號(hào)切換與控制系統(tǒng)，生產(chǎn)光學(xué)元器件廠家低溫儀及溫控系統(tǒng)，四通道夾具，液氮罐、測(cè)試與數(shù)據(jù)采集軟件（軟件兼容同惠 LCR 表以及是德（安捷倫）E4980AL 型 LCR 表和 4294A 型阻抗分析儀）；

2. 輸入端口：四個(gè) BNC 端口；

3. 輸出端口：10 個(gè) SMA 輸出端口，需采用 SMA 接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz 時(shí)）；

4. 溫度范圍：-170℃ 至 220℃（額定溫區(qū)，長(zhǎng)時(shí)間使用溫度），-185℃ 限溫區(qū)，短時(shí)間使用）；

5. 系統(tǒng)屏蔽：通道切換主板預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì)，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性；

6. 測(cè)試夾具：融石英與探針復(fù)合結(jié)構(gòu)夾具，探針需使用鈹銅鍍金材料以保證長(zhǎng)期測(cè)試穩(wěn)定性；

7. 同時(shí)測(cè)量樣品數(shù)：4 個(gè)；

8. 測(cè)試液氮用量：一次測(cè)試液氮使用小于 1L；

9. 測(cè)試頻率范圍：20Hz 至 5 MHz，基本準(zhǔn)確度 0.05%；

10. 升溫速率：升溫速率 1-10℃/min，測(cè)溫精度±0.1℃

11. 測(cè)試樣品直徑：2 mm 至 25 mm；

12. 樣品厚度：0.02 mm 至 4 mm；

13. 單樣品測(cè)試頻率數(shù)：最少 6 個(gè)頻率測(cè)量功能；

14. 變溫介電頻譜測(cè)試功能；

15. 變溫阻抗測(cè)試功能；

16. 掃頻測(cè)試功能。