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尼康儀器(上海)有限公司>>>>LC15Dx 激光掃描測頭(新)

LC15Dx 激光掃描測頭(新)

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更新時間:2021-08-12 12:46:03瀏覽次數(shù):210

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產(chǎn)品簡介

LC15DX革命性第三代激光掃描測頭精度可媲美接觸式測頭LC15Dx*可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機應(yīng)用

詳細(xì)介紹

 LC15DX

革命性第三代激光掃描測頭
精度可媲美接觸式測頭

 LC15Dx *可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機應(yīng)用。該機器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外,它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。

優(yōu)點

精度可媲美接觸式測頭 

采用激光掃描測頭技術(shù)的 LC15Dx 達(dá)到了與接觸式測頭同級別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中,LC15Dx 達(dá)到了與使用三坐標(biāo)測量機和接觸式測頭相當(dāng)?shù)木?。但與接觸式測頭不同的是,LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補償誤差。掃描測頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器,可解決激光掃描測頭在未達(dá)到工作溫度時容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問題。

操作輕松的多功能掃描

尼康的 ESP3 技術(shù)可針對每個測量點實時智能調(diào)整激光設(shè)定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體(包括小尺寸和易碎部件)及混合材料的尺寸,且無需用戶干預(yù)、手動調(diào)節(jié)以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射,而高級日光濾光片則可吸收環(huán)境光。

更高的產(chǎn)品質(zhì)量檢測水準(zhǔn)

全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個部件可與 CAD 模型進(jìn)行對比檢查,并用色彩映射高亮顯示需要關(guān)注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差(GD&T)庫進(jìn)行進(jìn)一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設(shè)備自動生成或簡易或詳細(xì)的測量報告。

軟件

適合各類應(yīng)用的直觀軟件

 LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi),適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。


重要功能包括:

• CAD 編程                      • 多傳感器三坐標(biāo)測量機
• 擬合                       • 離線編程
• 部件與 CAD 對比       • 點云測量
• 特征檢測                      • GD&T 庫
• 葉片分析                      • 教學(xué)編程
• 色彩報告                      • 離線模擬




應(yīng)用

 測量高精度部件和小型幾何體

LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體(包括精細(xì)部件、半鋼性部件和高性能材料)時具有顯著優(yōu)勢:

處理:生產(chǎn) - 研發(fā) - 逆向工程
方法:機械加工 - 模塑 - 模壓 - 澆鑄 - 鍛造
材料:金屬 - 塑料 - 橡膠 - 陶土 - 陶瓷 - 合成材料
表面處理:機械加工 - 拋光 - 電鍍 - 油漆 - 混色
結(jié)構(gòu): 剛硬 - 柔軟 - 柔韌 - 易碎
特征: 表面 - 幾何特征 - 剖面 - 截面

 多傳感器三坐標(biāo)測量機

結(jié)合激光掃描和接觸式探測

某些情況下,采用單傳感器技術(shù)無法測量所有特征。LC15Dx 可結(jié)合使用選購的接觸式測頭構(gòu)成多傳感器三坐標(biāo)多功能測量機。根據(jù)應(yīng)用需求,可在相同的檢測項目中單獨或共同使用這兩項技術(shù)。在三坐標(biāo)測量機平臺上加裝切換和存儲支架選購件后,可以自動切換傳感器。

 

升級改造

提升當(dāng)前三座標(biāo)測量機的能力 

使用 LC15Dx 來改進(jìn)您當(dāng)前的三座標(biāo)測量機是一種低成本高收益的解決方案。這種改進(jìn)基于現(xiàn)有的三座標(biāo)測量機控制器硬件,附之以兼容的*測頭系統(tǒng),構(gòu)成可進(jìn)行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標(biāo)多功能測量機。


LC15Dx 改進(jìn)套件可用于以下三座標(biāo)測量機控制器系統(tǒng)。

• Aberlink       • Hexagon DEA                       • Renishaw
• Deva            • Hexagon Brown & Sharpe    • Wenze
• Coord3        • Hexagon Sheffield                  • Werth
• Dukin           • Mitutoyo                               • Zeiss 


 規(guī) 格  

                                                                        

探測誤差(MPEP1 2.5μm (0.0001in)
多測針測試(MpeAL2 6μm (0.00024in)
分辨率(點距) 22μm (0.00087in)
數(shù)據(jù)采集(近似值) 70,000 點/秒
每線點數(shù)(近似值) 900
測量溫度范圍 18-22°C (64.4-71.6°F)
工作溫度范圍 10-40°C (50-104°F)
預(yù)熱時間 0(零)秒
重量 370g (13oz)
防護(hù)等級 IP30
電源 110/240VAc, 50/60Hz 5A
增強掃描測頭性能(ESP3)   √
日光濾光片    √
測頭兼容性3 PH10M, PH10MQ, CW43, PHS
激光類型 2 類(670μm)

 

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