掃描測(cè)量臂 – Ace Zephyr II Blue

掃描測(cè)量臂–AceZephyrIIBlueZephyrIIBlue掃描儀可以高精度處理表面，滿足各類工業(yè)高難度應(yīng)用需求

掃描測(cè)量臂 – Ace Zephyr II Blue

Zephyr II Blue掃描儀可以高精度處理表面，滿足各類工業(yè)高難度應(yīng)用需求。
Ace Zephyr II Blue便攜式三坐標(biāo)分辨率非常高，也能獲取微小細(xì)節(jié)。
專為挑戰(zhàn)性項(xiàng)目提供的高精度方案
高要求的工業(yè)通常需要高精度檢測(cè)零部件。Zephyr II Blue掃描儀憑借其10微米的精度，可用于嚴(yán)苛的項(xiàng)目。
掃描光亮表面
藍(lán)色激光技術(shù)和自動(dòng)質(zhì)量檢測(cè)設(shè)置使Zephyr II Blue能夠輕松掃描閃光部件（例如碳，鉻或黑色光澤的材料），且精度保持不變。
Zephyr II Blue既可用于測(cè)量臂，也可用于傳統(tǒng)三坐標(biāo)。兼有多功能，易于裝卸和轉(zhuǎn)移，是一個(gè)非常好的選擇。
Zephyr II Blue掃描儀可配備剛性探針和觸發(fā)式探針。該方案可使掃描與探測(cè)在同一測(cè)量范圍內(nèi)，更實(shí)用也更高效，特別是對(duì)定位操作。