CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀

　　CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。
　　本沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標準樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前切實可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗室的儀器。
技術(shù)參數(shù)：

　　1. 放大倍數(shù)：50×；
　　2. 投影屏尺寸：ф200mm;
　　3. 工作臺位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)；
　　4. 工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360о（無刻度）；
　　5. 光源：鹵鎢燈12V 100W;
　　6. 電源：200V 50HZ 150W;
　　7. 外形尺寸：515×224×603mm;
　　8. 重量： 約18kg。