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顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)-MicroTEQ-A1

參   考   價(jià): ￥ 1000

訂  貨  量: ≥1  把

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式：楊淑君查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-09-02 14:38:30瀏覽次數(shù)：413次

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MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能*。通過把光譜測(cè)量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測(cè)試模塊等部分構(gòu)成。

MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能*。通過把光譜測(cè)量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測(cè)試模塊等部分構(gòu)成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。


應(yīng)用范圍


  • 腫瘤檢測(cè)

  • 珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分

  • 地質(zhì)研究

  • gong安法學(xué)：筆跡鑒定、du品檢測(cè)等


定制顯微鏡


MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時(shí)，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對(duì)系統(tǒng)性能的側(cè)重點(diǎn)各不相同，該系統(tǒng)對(duì)此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。

系統(tǒng)參數(shù)

型號(hào)

MicroTEQ-A1

光譜儀配置

拉曼

拉曼

熒光

光譜儀

QEPRO@532 nm

QEPRO@785 nm

QEPRO-FL

光譜范圍

150-4200 cm-1@532 nm

150-2000 cm-1@785 nm

300-1050 nm

分辨率

~10 cm-1@5 um狹縫

~6 cm-1@5 um狹縫

1.5 nm@5 um狹縫

探測(cè)器

背照減薄型面陣CCD

激光器

單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器

功率

50 mW

波長(zhǎng)

532 nm

光束發(fā)散

1.3 mrad

顯微光譜測(cè)量模塊

400-1100 nm

模塊輸出能量

25 mW

手動(dòng)衰減切換

50%, 10%, 1%, 0.1%

光斑尺寸

10x NA0.25 物鏡下 <=10 um
























































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