當前位置：成都中冷低溫科技有限公司>>試驗箱>>HAST>>半導體芯片HAST測試高加速老化測試機

半導體芯片HAST測試高加速老化測試機

返回列表頁

參考價: ￥ 99999

訂貨量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地成都市

在線詢價收藏產(chǎn)品

聯(lián)系方式：羅林查看聯(lián)系方式

更新時間：2024-10-14 15:19:40瀏覽次數(shù)：206次

聯(lián)系我時，請告知來自制藥網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  高低溫測試系統(tǒng)

高低溫

冷熱臺

卡盤

維修服務(wù)

測試杯

熱風罩

氣流儀
  冷阱機

chiller

制冷機

低溫氟冷阱機
  試驗箱

系統(tǒng)

沖擊系統(tǒng)

高低溫試驗箱

HAST
  壓縮空氣干燥器
  zonglen
  維修

  其他品牌

成都中冷低溫科技有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：116條

所在地區(qū)：四川成都市

聯(lián)系人：羅林（運營經(jīng)理）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	產(chǎn)品大小	中型
產(chǎn)品新舊	全新	結(jié)構(gòu)類型	立式
溫度范圍	+105℃~+150℃

半導體芯片HAST測試高加速老化測試機，Burn-in Chamber測試機HAST試驗箱，HAST測試機高加速壽命試驗箱Burn-in system，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到模具/裝置上。

詳細介紹

（價格僅供參考，請以實際價格為準）

半導體芯片HAST測試高加速老化測試機

HAST測試機HAST老化測試儀Burn-in Oven試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用的壓力蒸煮鍋試驗方法。

HAST高壓加速老化試驗箱HAST老化測試儀Burn-in Oven主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到模具/裝置上。

半導體芯片HAST測試高加速老化測試機

標準設(shè)計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合guo家安全容器規(guī)范；

多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；

穩(wěn)定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩(wěn)定性；

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導出保存。

Burn-in system

HAST測試機HAST老化測試儀Burn-in Oven可根據(jù)客戶產(chǎn)品定制專用產(chǎn)品架

半導體芯片HAST測試高加速老化測試機

1. IEC60068-2-66

2. JESD22-A102-B

3. EIAJED4701