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成都中冷低溫科技有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
廠商性質生產(chǎn)商
所 在 地成都市
聯(lián)系方式：羅林查看聯(lián)系方式
更新時間：2024-11-06 11:55:51瀏覽次數(shù)：116次
聯(lián)系我時，請告知來自 制藥網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品大小 | 中型 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 結構類型 | 立式 |
| 溫度范圍 | +105℃~+150℃ |
HAST高加速壽命偏壓 老化測試系統(tǒng)，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。
（價格僅供參考，請以實際價格為準）
HAST高加速壽命偏壓 老化測試系統(tǒng)
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。
HAST高加速壽命偏壓 老化測試系統(tǒng)
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 應用適用于各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 。
HAST高加速壽命偏壓 老化測試系統(tǒng)
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 特點
·每顆器件的Vgs獨立控制
·實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、 Ig
·控制上、下電時序
·全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中，可輸出Excel
·試驗報表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)
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