技術(shù)文章
多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無(wú)損快速分析檢測(cè)各類(lèi)礦石礦產(chǎn)樣品
閱讀:555 發(fā)布時(shí)間:2022-5-3多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無(wú)損快速分析檢測(cè)各類(lèi)礦石礦產(chǎn)樣品
元素分析儀,是指同時(shí)或單獨(dú)實(shí)現(xiàn)樣品中多種種元素的分析的儀器。各類(lèi)元素分析儀雖結(jié)構(gòu)和性能不同,而性能各異。新款元素分析儀EDX9000B基于XRF光譜無(wú)損檢測(cè)技術(shù),已越來(lái)越受到市場(chǎng)歡迎。
英飛思科學(xué)儀器的元素分析儀EDX9000B,從2016年開(kāi)始商業(yè)化發(fā)布。2017年底推出的型號(hào)9000Bplus ,集十多年的專(zhuān)業(yè)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)、創(chuàng)新、科技進(jìn)步于一體的全新一代元素分析儀。
目前在擁有眾多客戶和良好口碑,是目前市場(chǎng)上可靠和準(zhǔn)確的元素分析儀之一。
應(yīng)用領(lǐng)域:
EDX9000B plus元素分析儀應(yīng)用范圍廣泛,適合有石化、農(nóng)業(yè)、食品、海洋、能源,無(wú)機(jī)化學(xué)、制藥、材料、環(huán)境、及石油化工等領(lǐng)域的分析。
元素分析——滿足實(shí)驗(yàn)需求
EDX9000B plus的分析性能,使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類(lèi)
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時(shí)分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限
元素分析儀EDX9000B plus參數(shù)指標(biāo)
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔:465mm*330mm*110mm |
半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 48Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測(cè)器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測(cè)器 |
探測(cè)器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV |
處理器類(lèi)型:全數(shù)字化DP-5分析器 |
譜總通道數(shù):4096道 |
X光管:高功率50瓦光管(管芯),冷卻方式:硅脂冷卻 |
光管窗口材料:鈹窗 |
準(zhǔn)直器:多達(dá)8種選擇,最小0.2mm |
濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換 |
高壓發(fā)生裝置:原裝美國(guó)高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA |
高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過(guò)載保護(hù),輸出精度:0.01% |
樣品觀察系統(tǒng):500萬(wàn)像素高清CCD攝像頭 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |