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GDT高溫電阻率測(cè)試儀

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更新時(shí)間：2022-05-19 15:19:25瀏覽次數(shù)：315

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GDT高溫電阻率測(cè)試儀該高溫電阻率測(cè)試儀是測(cè)量碳素塊狀材料在高溫環(huán)境下導(dǎo)電性能的專用儀器

詳細(xì)介紹

GDT高溫電阻率測(cè)試儀



該高溫電阻率測(cè)試儀是測(cè)量碳素塊狀材料在高溫環(huán)境下導(dǎo)電性能的專用儀器。該儀器由控溫系統(tǒng)、高溫爐、和測(cè)量系統(tǒng)組成。
高精度穩(wěn)壓恒流源：
輸入：220V±10% 功耗：≦300VA
輸出：電壓0～24V 電流0～40A 精度0.01
測(cè)試容器：
試樣直徑: Φ20～Φ50mm
試樣長(zhǎng)度: 100mm
電壓端子間距離：可調(diào)
試樣尺寸測(cè)量：數(shù)字顯示卡尺,0～150mm,精度0.01mm.
電壓測(cè)量：數(shù)顯電壓表，量程0～199.99MV,精度0.01MV
控溫系統(tǒng)：
溫度范圍：室溫～900℃
控溫儀表：日本微電腦智能程序控溫儀, SSR固態(tài)繼電器驅(qū)動(dòng),熱電偶自由輸入.

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