QNix 4500涂層測(cè)厚儀原理

QNix 4500涂層測(cè)厚儀原理

QNix 4500涂層測(cè)厚儀原理

磁性測(cè)量原理

一、磁感應(yīng)原理測(cè)厚儀磁感應(yīng)原理是利用測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測(cè)定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準(zhǔn)容易，可以實(shí)多種功能，擴(kuò)大量程，提高精度，由于測(cè)試條件可降低許多，故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)物上后，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流，磁通的大小影響到感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示，精度和重復(fù)性都不好，后來發(fā)展了數(shù)字顯示式，電路設(shè)計(jì)也日趨完善。

二、采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可以測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3～5倍以上(如銅上鍍鉻)。校準(zhǔn)的原則是沒有覆層的校準(zhǔn)試樣與被測(cè)物的基材應(yīng)有：成分相同，厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的小值約0.5mm以下時(shí))，有相同的曲率半徑，如被測(cè)面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求(直徑約20mm以下)，還應(yīng)有相同的被測(cè)面積。如覆層含有導(dǎo)電成份，校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測(cè)物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過其它(包括有損測(cè)試方法)測(cè)試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層，就可以在其上面按說明書的方法校準(zhǔn)測(cè)厚儀。校準(zhǔn)后就可以在被測(cè)產(chǎn)品上進(jìn)行快速無損檢測(cè)。校準(zhǔn)薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)樹脂浸漬過的硬紙。微電腦測(cè)厚一般有多個(gè)校準(zhǔn)值存貯。隨著被測(cè)產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測(cè)頭等均可分別校準(zhǔn)并存貯。實(shí)際使用時(shí)直接調(diào)用各校準(zhǔn)值，就無須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準(zhǔn)”。大大提高了檢測(cè)效率。測(cè)試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)供分析，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設(shè)置了上下極限還可以使統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確，測(cè)量時(shí)所有超限的點(diǎn)都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計(jì)計(jì)算用。

QNix 4500測(cè)厚儀特點(diǎn)：

1.只需調(diào)零、無需校準(zhǔn)
2.Fe/NFe兩用探頭
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀一體化設(shè)計(jì)
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀自動(dòng)開關(guān)機(jī)