TSL溫度試驗箱設(shè)備，LED芯片高低溫測試箱

溫度試驗箱設(shè)備，LED芯片高低溫測試箱
  適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗，也是篩選電子元器件初期故障的助手。  

溫度試驗箱設(shè)備，LED芯片高低溫測試箱的特點
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品放置測試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試；既可作冷熱沖擊試驗箱使用又可以作單獨的高溫箱或單獨的低溫箱使用；   
2、可由測試孔外加負(fù)載配線測試部件；   
3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡單易懂，運行狀態(tài)一目了然；   
4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng)；   
5、具有RS-232或RS-485通訊接口，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷；   
6、可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2槽或3槽之功能，并具有高低溫試驗機(jī)的功能；   
7、可在預(yù)約開機(jī)時間運轉(zhuǎn)中自動提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能；   
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)，自動(手動)除霜；   
9、采用日本Q8-900控制器人機(jī)界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全。   

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)    
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；     
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；     
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；     
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；     
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；     
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。     
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式      
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則      
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則    
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估 

技術(shù)規(guī)格