美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1)采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。

2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋，Zeta電位將*改變);

3)該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；

4)堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中；

5)自動(dòng)滴定法用于簡單的IEP測量；

6)樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合，因此不會產(chǎn)生沉淀物；

7)高頻電場采用非常短的脈沖，因此樣品測量時(shí)不會產(chǎn)生錯(cuò)誤；

8)可實(shí)時(shí)測量實(shí)際樣品；

9)不使用光學(xué)技術(shù)，因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品；

10)可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；

11)該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動(dòng)測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)

美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

技術(shù)參數(shù)：

1)測量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間；

2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)；

3)寬粒徑測量范圍：從1nm到30um；

4)自動(dòng)電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測定；

5)由于機(jī)載樣品混合和/或測量時(shí)的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響；

6)Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中，測量精確、重復(fù)性好，方便使用；

7)可測量高粘度的樣品，樣品濃度可從0.1%到60%；

8)可在0-14的pH值范圍內(nèi)進(jìn)行測定；

9)可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)；

10)小樣品容量10ml，沒有大容量限制；

11)微軟支持的軟件界面，帶強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能；

12)12個(gè)月的保質(zhì)期和免費(fèi)的技術(shù)咨詢