詳細(xì)介紹
設(shè)備技術(shù)指標(biāo)
產(chǎn)品名稱:三廂式溫度沖擊試驗(yàn)箱,
產(chǎn)品型號(hào):ATS-L515
內(nèi)箱尺寸W ×H× Dmm:700 X 600X600
外箱尺寸W ×H× Dmm:1815 X 2080X 2040
內(nèi)箱容積 : 252L
預(yù)熱溫度:60℃~200℃ (60℃~180℃ ≤40min)
預(yù)冷溫度:-10~-70℃ (25℃~-70℃ ≤60min)
高溫沖擊范圍:﹢25 ℃ ~ ﹢150 ℃
低溫沖擊范圍:-10 ℃ ~ ﹣55 ℃
試驗(yàn)規(guī)格:三箱式150 ℃(30 min) ← 常溫 → -55℃(30 min)
試驗(yàn)負(fù)載:10 Kg 鋁錠
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10S
恢復(fù)時(shí)間:≤5 分 鐘
除霜頻率≥300 cycle/次
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn):設(shè)備驗(yàn)收可按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.2-96執(zhí)行,技術(shù)指標(biāo)以技術(shù)規(guī)格書為準(zhǔn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
IEC60068-2-1/ GB/T2423.1-2008:《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》 IEC60068-2-2/ GB/T2423.2-2008:《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》 IEC60068-2-14/ GB/T2423.22-2012:《 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化》
GB/T10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 JESD22-A104,IEC60068-3-5 等