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ZEISS T-SCAN10 20 激光三維掃描儀

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更新時間:2023-10-26 10:40:09瀏覽次數(shù):172

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產(chǎn)品簡介

模塊一體化概念模塊一體化概念和完整的激光掃描儀解決方案為各種應用和表面檢測提供的靈活性

詳細介紹

模塊一體化概念

模塊一體化概念和完整的激光掃描儀解決方案為各種應用和表面檢測提供的靈活性。

及時發(fā)現(xiàn)偏差

省時省錢:該移動式測量解決方案可作用于車間現(xiàn)場,帶來直觀的零件分析,測量以及數(shù)模建立。

用戶引導性的軟件工作流程

T-SCAN系統(tǒng)現(xiàn)與GOM Inspect Suite軟件套裝結(jié)合。用戶可在視察器上實時查看掃描進度,并在掃描,探針探測和檢測過程中獲得軟件操作提示。

快速和高精度三維掃描

一系列出色的產(chǎn)品技術特征,比如適用于掃描各類物體表面的高動態(tài)范圍,創(chuàng)新攝像技術,高品質(zhì)蔡司光學元件和高數(shù)據(jù)速率結(jié)合,確保了流暢的掃描過程和精確的測量結(jié)果。

動態(tài)參考

即使在移動的物體上也能高精度采集三維數(shù)據(jù)。動態(tài)參考功能可以讓您不受零部件運動和震動等惡劣條件影響,高效完成測量任務。

移動式計量室,三維數(shù)據(jù)采集直觀

即刻捕捉三維數(shù)據(jù),無需任何零件準備工作。模塊化的T-SCAN系統(tǒng)形成一套直觀且高精度的三維計量解決方案:

· 手持式T-SCAN激光掃描儀

· 光學跟蹤系統(tǒng)T-TRACK

· 接觸式探針T-POINT  

· GOM Inspect Suite

接觸式探針ZEISS T-POINT

用于單點測量零件表面

· 測量切邊,標準幾何形狀或光學測量手段難以進入的死角區(qū)域;

· 快速,穩(wěn)定地采集目標位置的三維數(shù)據(jù);

· 可與傳統(tǒng)的測量探針一起使用,更換起來方便快捷。

擴展您的測量體積ZEISS T-SCAN SMTs

通過使用T-SCAN SMT(球形標靶),您可以進一步擴展測量體積,甚至結(jié)合多個蔡司T-SCAN系統(tǒng)使用。當被測零件尺寸過大,或者表面形狀阻礙激光投射時,您可以將這個方便的多位置跟蹤器安裝到物體上,從而獲得精度一致的三維數(shù)據(jù)。

高過程可靠性GOM Inspect Suite

GOM Inspect Suite擁有成熟的三維計量體系標準。蔡司T-SCAN 目前與GOM Inspect Suite多合一軟件解決方案實現(xiàn)同步結(jié)合。測量和檢測均可以在軟件中執(zhí)行,全參數(shù)化的工作流程確保所有過程步驟的可追溯性。此外軟件提供用戶操作指引,可輔助用戶進行掃描和探測,從而簡化并加快工作流程。

技術參數(shù)

 測量深度  +/- 50 mm
 線寬  至 125 mm
 工作距離  150 mm
 線頻率  至 330 Hz
 數(shù)據(jù)速率  210,000 測點/秒
 重量  1100 g
 測頭尺寸(包括把手和IR pins)  300 x 170 x 150 mm
 纜線長度  10 m
 點間距  0.075 mm
 激光等級 (IEC 60825-1:2014)  Class 2M (人眼安全)
 軟件  GOM Inspect Suite

 

 產(chǎn)品型號  T-SCAN 10  T-SCAN 20
 測量距離:測量物到相機距離  2.0 m – 4.50 m  2.0 m – 6.0 m
 測量體積  10 m3  20 m3
 掃描視場   2894 mm x 2324 mm   3200 mm x 2500 mm
 測量速率   2.8 kHz   2.8 kHz
 重量  18.5 kg  18.5 kg
 尺寸  1150 x 180 x 150 mm  1150 x 180 x 150 mm
 軟件  GOM Inspect Suite  GOM Inspect Suite
 精度可溯源  是  是
 精確度  33+(33*L/1000)  40+(40*L/1000)

隨箱攜帶的移動計量室

· T-TRACK及其相關配件專用手提箱

· T-SCAN激光掃描儀及其控制器專用手提箱

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