IM3570阻抗分析儀

1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查● LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量● 基本精度±0.08%的高精度測量● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量●......

1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查

● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量
● 可以用于無線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400