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P5934邏輯分析儀探頭

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  • P5934邏輯分析儀探頭

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  • 型號(hào) P5934
  • 品牌
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 其他
  • 所在地 深圳市

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更新時(shí)間:2023-12-11 19:03:16瀏覽次數(shù):152

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我們的優(yōu)勢(shì):品種齊全,貨源充足,存庫(kù)雄厚,服務(wù)快捷,維修能力強(qiáng)。 歡迎來(lái)電!上門(mén)看貨!您的滿(mǎn)意是我們的追求!凡本公司所銷(xiāo)售的產(chǎn)品可享受一年保修期!!

詳細(xì)介紹

  • 主要特點(diǎn)
    • 較低的總電容性負(fù)載盡量減少對(duì)電路的侵入

    • 20 k? 輸入電阻

    • 7.5 Vp-p動(dòng)態(tài)范圍支持范圍廣泛的邏輯系列

    • 附加機(jī)制多種多樣,包括高密度 D-Max®、Mictor、方針和飛腳。

    應(yīng)用
    • 數(shù)字硬件驗(yàn)證和調(diào)試

    • 監(jiān)控、測(cè)量和優(yōu)化數(shù)字硬件性能

    • 嵌入式軟件集成、調(diào)試和驗(yàn)證

    用于實(shí)時(shí)數(shù)字系統(tǒng)分析的探頭解決方案 – P5900 系列探頭

    測(cè)試和測(cè)量解決方案如果不帶探測(cè)且未考慮其對(duì)于系統(tǒng)和測(cè)量時(shí)間的影響,則不算完整。 憑借行業(yè)的探頭加載,P5900 系列邏輯分析儀探頭保護(hù)信號(hào)的完整性,從而盡量減小對(duì)于設(shè)計(jì)的影響。 P5900 系列邏輯分析儀探頭在與 TLA6400 系列邏輯分析儀結(jié)合使用時(shí),可以經(jīng)濟(jì)的價(jià)格實(shí)現(xiàn)精密的邏輯分析。 請(qǐng)從各種附加機(jī)制中進(jìn)行選擇,包括高密度 D-Max®、Mictor 和通用探頭。

  • The main features


    The lower total capacitive load minimizes the intrusion into the circuit

    20 k ? input resistance

    7.5 vp-p dynamic range supports a wide range of logic series


    Additional mechanisms are diverse, including high density D - Max ®, Mictor, policy and fly feet.

    application


    Digital hardware validation and debugging

    Monitor, measure and optimize digital hardware performance

    Embedded software integration, debugging and validation

    Advanced probe solution for real-time digital system analysis - P5900 series probe


    A test and measurement solution is incomplete without a probe and without considering its impact on the system and measurement time. With the lowest probe load in the industry, the P5900 series logic analyzer probes protect signal integrity to minimize design impact. The probe of P5900 series logic analyzer can be used in combination with TLA6400 series logic analyzer to achieve precise logic analysis at an economical price. Please choose from a variety of additional mechanism, including high density D - Max ®, Mictor and general probe.


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