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詳細介紹
商品詳情
產(chǎn)品介紹:
HD-2700是一款200kV的場發(fā)射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡，HD-2700采用球差校正技術(shù)，大大減小了透鏡球差對分辨率的影響，從而可以實現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時，HD-2700是目前少數(shù)以掃描透射（STEM）功能為主的透射電鏡，大會聚角的STEM功能配合場發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級的電子束，使得原子級分辨率的圖像觀察和元素分析成為了可能，大大提高了電鏡的觀察和分析能力。
主要特點:
高分辨觀察
利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像（標準型）
大束流分析
約為非校正的STEM探針電流的10倍，可以進行高速、高靈敏度能譜分析，可以在更短的時間內(nèi)獲得元素的面分布圖，使得檢測微量元素成為可能。
簡化的操作
提供了專用的GUI自動調(diào)節(jié)球差校正器
整體的解決方案
樣品桿與日立FIB兼容，提供了納米尺度的整體解決方案，從制樣到數(shù)據(jù)獲得和最終分析
多種評價和分析功能可選
可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像；可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時獲得)；可以同時觀察DF-STEM像和衍射像；可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。
應(yīng)用領(lǐng)域:
HD-2700作為一款場發(fā)射球差校正的掃描透射電鏡，不僅具有高分辨率的圖像觀察能力，同樣具有高空間分辨率的分析能力，配合EELS和EDS可以實現(xiàn)原子級元素的分析。HD-2700具有多種成像模式，可以滿足大部分樣品的觀察需求，其中日立的SE成像模式可以獲得透射電鏡無法獲得的樣品表面的信息，同時又比普通掃描電鏡具有更高的分辨率，可以實現(xiàn)對樣品表面的高分辨觀察。
產(chǎn)品圖片
所有商品圖片均由廠家提供；請以收到的實物為準！
規(guī)格參數(shù)
型號
HD-2700
電子槍
冷場或熱場發(fā)射電子槍
加速電壓
200kV、120kV*
線分辨率
0.144nm（標準型，配有球差、冷場或熱場）
0.136nm（高分辨型，配有球差、冷場）
0.204nm（標準型，配有熱場，無球差）
0.136nm（高分辨型，配有球差、冷場）
0.204nm（標準型，配有熱場，無球差）
圖像模式
BF-STEM相襯度像(TE像)、DF-STEM原子序數(shù)襯度像(ZC像)、二次電子像(SE像)、電子衍射花樣(可選)、特征X射線像(可選：EDX)、EELS像(可選：ELV-2000)
放大倍率
200x - 10,000,000x
電子光學(xué)
電子槍：冷場或熱場發(fā)射電子槍，內(nèi)置陽極加熱器
透鏡系統(tǒng)：兩級聚光鏡、物鏡、投影鏡
球差校正器：六極/傳輸 雙重（標準型和高分辨型）
掃描線圈：兩級電磁線圈
電位移：±1μm
透鏡系統(tǒng)：兩級聚光鏡、物鏡、投影鏡
球差校正器：六極/傳輸 雙重（標準型和高分辨型）
掃描線圈：兩級電磁線圈
電位移：±1μm
樣品桿
側(cè)插式，X=Y=±1mm，Z=±0.4mm ，T=±30°(單傾樣品桿)
售后保障
l 產(chǎn)品質(zhì)量問題，在產(chǎn)品售出7天內(nèi)提出異議并且產(chǎn)品未有損壞的，中美儀器商城負責無條件免費退換貨；
l 本產(chǎn)品全國聯(lián)保，質(zhì)保期：1年質(zhì)保（耗材不在保修范圍內(nèi)）；
l 質(zhì)保期內(nèi)如有產(chǎn)品質(zhì)量問題，免費維修（使用不當除外）；質(zhì)保期外長期提供技術(shù)支持，不收維修費，只酌情收取基本配件費及相關(guān)費用；
l 所有產(chǎn)品售后問題，請直接聯(lián)系我司，我司售后服務(wù)團隊會在30分鐘內(nèi)響應(yīng)處理。
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