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詳細(xì)介紹
轉(zhuǎn)臺用溫控箱適用于航空航天電子等行業(yè)對運動中的試件進(jìn)行環(huán)境模擬試驗，檢驗試件在實際運動中的可靠性。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
GB/T 2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法
GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
主要技術(shù)指標(biāo)：
產(chǎn)品名稱 | 加速度計專用溫控箱 | ||||
產(chǎn)品型號 | HZ-XY-ZT-125 | HZ-XY-ZT-250 | HZ-XY-ZT-500 | HZ-XY-ZT-1000 | |
內(nèi)箱容積 | 升/L | 125 | 250 | 500 | 1000 |
內(nèi)箱尺寸 | W*H*D（cm） | 50×55×50 | 60×70×60 | 85×70×85 | 95×120×95 |
轉(zhuǎn)臺類型 | 加速度計專用溫控箱 | ||||
轉(zhuǎn)角范圍 | 內(nèi)環(huán)：連續(xù)；外環(huán)：連續(xù) | ||||
性能指標(biāo) | 溫度范圍 | A、-70℃～150℃ B、-80℃～150℃ | |||
溫度波動度 | ±0.5℃ | ||||
溫度均勻度 | ≤2.0℃ | ||||
溫度偏差 | ≤±2.0℃ | ||||
升溫速率 | ≥2.0/5.0/10.0℃/min | ||||
降溫速率 | ≥2.0/5.0/10.0℃/min | ||||
制冷方式 | 壓縮機制冷 | ||||
冷卻方式 | F、風(fēng)冷 W、水冷 | ||||
機組安裝方式 | 室內(nèi)一體式、室內(nèi)分體式、室外分體式 | ||||
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