CHY-CA硅片厚度測定儀 臺式膜厚測量儀

一個材料的厚度是否均勻會影響整體材料的物理性能，厚度是材料基本的一個要素，其涉及到制作工藝是否合格，制作流程是否完善。
標(biāo)準(zhǔn)對材料厚度有著嚴(yán)格的參數(shù)要求，濟(jì)南賽成儀器，CHY-CA測厚儀，0.1μm高精度測試，全自動進(jìn)樣，操作智能化，方便用戶和生產(chǎn)商對產(chǎn)品進(jìn)行抽檢。

 CHY-CA硅片厚度測定儀 臺式膜厚測量儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

CHY-CA硅片厚度測定儀 臺式膜厚測量儀?技術(shù)特征

微電腦控制系統(tǒng)，大液晶顯示、PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制

測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇

系統(tǒng)自動進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可自行設(shè)定

實(shí)時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)

支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時顯示、自動統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果

標(biāo)準(zhǔn)的USB接口，方便系統(tǒng)與電腦連接和數(shù)據(jù)傳輸 

技術(shù)指標(biāo)

測試范圍 ：0～2 mm（常規(guī)）、0～6 mm、12 mm（可選）

分 辨 率 ：0.1 μm

測量速度 ：10 次/min （可調(diào)）

測試壓力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）

接觸面積 ：50mm²（薄膜）；200mm²（紙張）注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制

進(jìn)樣步距 ：0～1000 mm

進(jìn)樣速度 ：0.1～99.9 mm/s

電源 ：AC 220V 50Hz

外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

凈重 ：32 kg