您好, 歡迎來到制藥網
X射線衍射儀技術可為客戶解決哪些問題
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產等領域。
X射線衍射儀能夠精確地對金屬和非金屬樣品進行定性分析、定量及晶體結構分析，還可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料。在材料學、物理學、化學、聚合物、冶金、礦物、催化劑、水泥、制藥、塑料、陶瓷、考古、商檢等眾多學科和行業(yè)中都有廣泛應用，是理工科院校和材料研究、生產和科研機構、廠礦等單位*的大型分析設備。
X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題：
?。?）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
?。?）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
?。?）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。
（4）產品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
?。?）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
X射線衍射分析方法可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征,如:點陣常數(shù)的精細測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘余應力測定,結晶度計算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結構表征更常規(guī)和更有效的方法之一。