您好, 歡迎來到制藥網(wǎng)
會(huì)員1.png)
X射線衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的
X射線衍射儀的基本原理：
晶體可以作為 X 射線的空間衍射光柵，即當(dāng)一束 X 射線通過晶體時(shí)將發(fā)生衍射，衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱，體現(xiàn)在X射線衍射圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。通過分析X射線衍射圖譜就可以測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。
X射線衍射儀采用當(dāng)前*的技術(shù)，能夠精確地對金屬和非金屬多晶粉末樣品進(jìn)行物相檢索分析、物相定量分析（包括新的無標(biāo)樣定量分析功能）、多層薄膜物相分析，顆粒大小及粒徑分析，基本參數(shù)法線形分析、晶胞參數(shù)計(jì)算和固溶體分析、晶粒大小及微觀應(yīng)力分析。儀器包括長壽命陶瓷X光管、X射線發(fā)生器、高精密測角儀、一維陣列探測器、高低溫附件、SAXS小角散射附件、薄膜分析附件、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理軟件、相關(guān)應(yīng)用軟件和循環(huán)冷卻水裝置。
X射線衍射儀可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析，而且利用衍射峰位，衍射峰強(qiáng)度，衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征，如:點(diǎn)陣常數(shù)的精密測定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算，宏觀殘余應(yīng)力測定，結(jié)晶度計(jì)算等；X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征常規(guī)和有效的方法之一。
X射線衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。
*硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要
*高精度的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果
*高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度
*各種功能附件滿足不同測試目的需要
*程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，操作簡便、儀器外型更美觀
X射線衍射儀外型小巧方便，具有分析儀器的測試性能，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域，是一種適用于大專院校學(xué)生實(shí)驗(yàn)及研究的X射線衍射儀,特別適合于野外作業(yè)進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)解析。