PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀

PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質(zhì)譜分析。在理論上，該儀器可以在一個無限大的質(zhì)量范圍內(nèi)提供很高的質(zhì)量分辨率（在實踐中通常是大約 10000amu）。
PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀三次對焦飛行時間）是一種高傳輸、并行檢測儀器，其目的是由主脈沖離子束轟擊樣品表面所產(chǎn)生的二次離子可以得到*的收集狀態(tài)，并可同時用于有機和無機表面特征分析。
TRIFT分析儀的工作原理會把離子在光譜儀中不斷的重新聚焦。使二次離子質(zhì)譜允許更多重大的實驗得以進行。主離子束*的設計，允許經(jīng)由計算機控制去同時達到高橫向分辨率的成像和高質(zhì)量的圖譜分辨率。
是第五代SIMS儀器，該儀器具有*的時間飛行（TOF）分析儀，它擁有市場上TOF-SIMS儀器中zui大的角度和能量接受標準，實現(xiàn)了高空間分辨率質(zhì)量分辨率和使用具有優(yōu)良離子傳輸能力的三重重點半球形靜電分析器。PHI TRIFT V nanoTOF還具有很高的能力，可以圖像具有非常復雜的幾何形狀的樣本而沒有陰影。