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臺(tái)州諾尚機(jī)械設(shè)備有限公司>>>>NS-8600鍍層測(cè)厚儀

NS-8600鍍層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2018-10-31 21:30:21瀏覽次數(shù):748

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
NS-8600鍍層測(cè)厚儀主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光光譜法等。前五種方法要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,是屬于有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢。而X射線(xiàn)熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟,可以達(dá)到即時(shí)分析,無(wú)損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù),是我國(guó)普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。諾尚生產(chǎn)的鍍層檢測(cè)儀使用的就是X射線(xiàn)熒光光譜法這一*的檢測(cè)技術(shù)。

詳細(xì)介紹

NS-8600鍍層測(cè)厚儀

一、前言

電鍍是國(guó)民經(jīng)濟(jì)中*的基礎(chǔ)工藝性行業(yè),要提高電鍍企業(yè)的實(shí)力就必須從企業(yè)的硬件著手,而內(nèi)部管控測(cè)試是*的環(huán)節(jié)。電鍍,就是通過(guò)電化學(xué)的方法,將一種金屬或金屬化合物鍍覆到基體上的工藝。電鍍的基本原材料就是鋅、鎳、銅、鉻及金、銀等重金屬。鍍層測(cè)量已成為金屬加工業(yè)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的重要工序之一,是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*手段。目前,國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定鍍層厚度,鍍層無(wú)損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的進(jìn)步而變得更加重要。

二、解決方案

鍍層無(wú)損檢測(cè)方法

目前常用的鍍層檢測(cè)方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光光譜法等。前五種方法要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,是屬于有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢。而X射線(xiàn)熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟,可以達(dá)到即時(shí)分析,無(wú)損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù),是我國(guó)普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。諾尚生產(chǎn)的鍍層檢測(cè)儀使用的就是X射線(xiàn)熒光光譜法這一*的檢測(cè)技術(shù)。

X射線(xiàn)熒光光譜法(XRF)的工作原理是利用X射線(xiàn)激發(fā)被測(cè)物體表面,使得其表面原子發(fā)生能級(jí)躍遷,利用探測(cè)器接收到X射線(xiàn),然后通過(guò)能譜圖對(duì)比分析出元素成份。

選擇X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀的四個(gè)理由:

1、無(wú)損檢測(cè)

鍍層工藝的高要求,讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)方法越來(lái)越不適用,市場(chǎng)上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的檢測(cè)方法,而X射線(xiàn)熒光光譜法無(wú)非的鍍層無(wú)損檢測(cè)方法。

2、強(qiáng)化品質(zhì)管控

X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀可以準(zhǔn)確檢測(cè)鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù),這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。

3、提升生產(chǎn)力

傳統(tǒng)的檢測(cè)技術(shù),既耗時(shí)又耗人力,而X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀可以很大程度上解放勞動(dòng)力,且檢測(cè)速度快、精度高,這對(duì)提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助,從而帶來(lái)更多的經(jīng)濟(jì)效益。

4、提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力

X熒光光譜鍍層檢測(cè)儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動(dòng)生產(chǎn)力,也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。


儀器*:鍍層檢測(cè)儀NS-8600

鍍層檢測(cè)儀NS-8600是諾尚儀器根據(jù)多年的鍍層檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),自主研發(fā)生產(chǎn)的X射線(xiàn)熒光光譜檢測(cè)儀之一。它配備了美國(guó)進(jìn)口的Si-PIN探測(cè)器,并集成探測(cè)器供電控制系統(tǒng)等十多項(xiàng)自主研發(fā)產(chǎn)品,符合鍍層檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 16921-2005。

性能特點(diǎn)

無(wú)損:無(wú)損檢測(cè),不需要任何耗材

精準(zhǔn):美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器,對(duì)所有元素均能精準(zhǔn)檢測(cè)

簡(jiǎn)便:操作簡(jiǎn)易,無(wú)需專(zhuān)業(yè)測(cè)試人員,無(wú)需嚴(yán)格的測(cè)試條件

快速:3秒內(nèi)可對(duì)樣品定性識(shí)別,60秒內(nèi)可得出測(cè)試結(jié)果

直觀:高清晰圖形即時(shí)顯示,檢測(cè)結(jié)果直觀明了

安全:加裝防輻射裝置,主動(dòng)保護(hù)操作人員安全


NS-8600鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

設(shè)備原理:X熒光能量色散

元素分析:從Na~U的所有元素

檢出限:100ppm(基體效應(yīng))

測(cè)量精度:±10PPM~0.1%

擴(kuò)展不確定度:≤0.19%

鍍層測(cè)量:鍍層厚度范圍<30um

X射線(xiàn)源:Mo靶的X射線(xiàn)光管 風(fēng)冷(*)

探測(cè)器:Si-PIN探測(cè)器(美國(guó)進(jìn)口)

分辨率:145Kev±5

攝像頭:高清晰攝像定位系統(tǒng)

軟件:菜單式軟件,帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算

高壓器:0~50Kv(進(jìn)口)

溫度:-11~46℃

電壓:100~127V或220~240V,50/60Hz

大功率:144W

主體結(jié)構(gòu):高強(qiáng)度金屬支架+工程塑料外殼

重量:32公斤

尺寸:650*450*350mm

標(biāo)準(zhǔn)配置

主動(dòng)式射線(xiàn)保護(hù)

高壓過(guò)壓保護(hù)

光管過(guò)熱保護(hù)

全局故障診斷

升降壓預(yù)啟動(dòng)

擴(kuò)展線(xiàn)材及輔助支架

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