詳細介紹
C2+/C2si+共聚焦顯微鏡
C2+/C2si+共聚焦顯微鏡是實驗室顯微設(shè)備。C2+共聚焦顯微鏡系統(tǒng)是新研發(fā)的Nikon 共聚焦儀器的一部分,新開發(fā)的產(chǎn)品為必要的實驗室顯微鏡工具。由于產(chǎn)品有令人難以置信的穩(wěn)定性,操作簡易,且有*的光學(xué)性能和高速圖像采集(可達100 幀/秒*)能力。 C2+可作為出色顯微鏡工具(新購置),或?qū)⒁延械淖u立顯微鏡升級為C2+共聚焦系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點:
高性能光學(xué)鏡頭
CFI復(fù)消色差λS系列:此系列高數(shù)值孔徑(NA)物鏡為共聚焦拍攝的理想之選,其對寬波長范圍自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物鏡色差校正可達紅外范圍。使用Nikon的納米晶體涂層技術(shù)可有效增加光線透過率。
CFI Apochromat 40xWI λS, NA1.25 (左);CFI Apochromat LWD 40xWI λS, NA1.15 (中);CFI Apochromat 60x Oil λS, NA1.4 (右)
CFI復(fù)消色差TIRF 系列 :此系列物鏡的NA值為1.49 (使用標(biāo)準(zhǔn)的蓋玻片和浸油),在Nikon物鏡中具備的分辨率。配備溫度校正環(huán)可在23°C~37°C溫度范圍對圖像質(zhì)量進行校正。
CFI Apochromat TIRF 60x oil, NA1.49 (左);CFI Apochromat TIRF 100x oil, NA1.49 (右)
描頭和檢測器
具備方便小巧的掃描頭, 使C2+可用于各類Nikon 顯微鏡。C2+使用高精度振鏡與優(yōu)質(zhì)圓形光學(xué)針孔,分離式檢測有效隔離熱原同噪音,可獲取低噪音,高對比度與高品質(zhì)的共聚焦圖像。新開發(fā)的掃描驅(qū)動系統(tǒng)和Nikon的圖像校正技術(shù),允許8幀/秒(512 x 512像素)和100 幀/秒(512 x 32 像素)的高速成像。
高功能
高效圖像處理軟件NIS-Elements提供各種圖像處理和分析功能。并可從圖像中提取數(shù)據(jù)。此外,NIS-Element 可實現(xiàn)Nikon 顯微鏡和其他第三方外設(shè),如EMCCD相機和濾光輪的直接操作,使其可適用于各類實驗應(yīng)用。
圖像質(zhì)量
譽立的光學(xué)組件和久經(jīng)考驗的高效光學(xué)設(shè)計可在很遠的工作距離下提供很明亮與很清晰的圖像。
靈活性
C2+可與正置、倒置、電生理和宏觀成像顯微鏡聯(lián)合使用,且可以與各種高質(zhì)量研究試驗系統(tǒng)聯(lián)合使用??捎肗IS-Element 軟件控制所有的尼康顯微鏡系統(tǒng)。
高清晰度微分干涉(DIC)圖像
C2+能同時獲得三個通道的熒光,或同時實現(xiàn)三通道熒光與透射微分干涉(DIC)的觀察。高品質(zhì)DIC圖像和熒光圖像可以疊加,以便進行形態(tài)分析。
多種拍攝模式
單一軟件包即可提供各種成像方法,如共聚焦、寬視野、TIRF 、光活化,并同時具有圖像的處理、分析和呈現(xiàn)的功能。用戶可在統(tǒng)一的界面與工作流程中輕松掌握控制不同的成像系統(tǒng)。
易于辨識的激光與探測器設(shè)置 掃描闡述設(shè)置
AZ-C2+宏觀共聚焦系統(tǒng)
在高清晰度的大視野下,超過1 cm的大樣本都可獲取高S/N比的圖像。AZ-C2+可獲取完整樣品的圖像,如胚胎,單次拍照,高達2048×2048像素分辨率,并可使用C2si+獲得32通道光譜數(shù)據(jù)??蓪⒌捅堵逝c高倍率物鏡,光學(xué)變焦和共焦掃描變焦功能相結(jié)合,從宏觀到微觀連續(xù)成像。
TIRF/光活化-C2+多模式成像系統(tǒng)
可整合選配的TIRF 激光照明模塊和與光活化模塊,實現(xiàn)高S/N比單分子成像,并捕捉光活化與光轉(zhuǎn)化中熒光蛋白熒光特征變化圖像。
相關(guān)產(chǎn)品:
A1+/A1R+顯微鏡 A1 MP+/A1R MP+顯微鏡 Multizoom AZ-C2+顯微鏡 A1si+/A1Rsi+顯微鏡