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金屬硬度檢測(cè) Equotip 550 Leeb 硬度計(jì)

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圓派科學(xué)儀器（上海）有限公司

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金屬硬度檢測(cè) Equotip 550 Leeb

詳細(xì)介紹

Equotip 550 是便攜式硬度檢測(cè)中功能的一體化解決方案。里氏硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法，于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。這將能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。此外，該儀器可兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 Equotip 裝置*眾多行業(yè)對(duì)無(wú)損硬度檢測(cè)的要求。

特色/應(yīng)用/標(biāo)準(zhǔn)化/技術(shù)數(shù)據(jù)

Equotip Leeb

根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準(zhǔn)確度為 0.5%）
測(cè)量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿足絕大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。
每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

模塊化概念：利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
組合法：在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量精確度
自動(dòng)驗(yàn)證：根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證
互動(dòng)指南：通過(guò)屏幕通知為您的應(yīng)用獲取的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線：直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線
自定義報(bào)告：模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
自動(dòng)選項(xiàng)：將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
外殼經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時(shí)長(zhǎng) > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：探頭連接器、USB 主機(jī)、USB 裝置和以太網(wǎng)
通過(guò)直接兼容后續(xù)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來(lái)保障投資