ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能

將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

Sigma 300 具有*的性?xún)r(jià)比，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

基于成熟的 Gemini 技術(shù)

Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率。

Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。

靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像

使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。

使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。

ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡高級(jí)分析型顯微鏡

將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。