TESCAN S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 電子顯微鏡

TESCAN S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡全新設(shè)計(jì)的S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，配置了新的BrightBeam™鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

TESCAN S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

全新設(shè)計(jì)的S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗(yàn)。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點(diǎn)：
新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力

*配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面

配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用

TESCAN S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了新的BrightBeam™鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

另外，EquiPower™透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。