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高精度薄膜厚度測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2019-08-05 20:36:49瀏覽次數(shù):509

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濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司研發(fā)生產(chǎn)的高精度薄膜厚度測(cè)厚儀CHY-5采用機(jī)械式測(cè)量方法,適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測(cè)量

詳細(xì)介紹

高精度薄膜厚度測(cè)厚儀CHY-5(高精度薄膜測(cè)厚儀,High precision film thickness gauge CHY-5)高精度薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械式測(cè)量方法,適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測(cè)量。

 高精度薄膜測(cè)厚儀/機(jī)械接觸式測(cè)厚儀

 

高精度薄膜厚度測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo):
儀器型號(hào):CHY-5
專業(yè)名稱:測(cè)厚儀
測(cè)量范圍:0-2mm (其他量程可定制)
分辨率 :0.1um
測(cè)量速度:10 次/分(可調(diào))
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜),200mm2(紙張)    注:薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩:0 ~ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 :0 ~ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23kg

 

   應(yīng)用范圍:

    適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

 

CHY-5滿足以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定_機(jī)械測(cè)量法;

ASTM D374固體電絕緣材料厚度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;

ASTM D1777-1996(2002)  測(cè)量紡織材料的厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 451.3、 GB/T 6547、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817等。

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