電容膜厚度檢測(cè)儀

    電容膜成為了很多類型電容*的關(guān)鍵，電容膜越厚，所承受的電壓就越高，反之，所承受的電壓就越低.

     因此，電容膜厚度測(cè)量很一項(xiàng)重要的物理性能檢測(cè)指標(biāo)。

      電容膜厚度測(cè)量用什么檢測(cè)儀器？

 電容膜厚度檢測(cè)儀

    電容膜厚度檢測(cè)儀CHY-U參數(shù)介紹：

    其他名稱：電容膜厚度測(cè)量?jī)x

    測(cè)量范圍：0-2mm （其他量程可定制）

    分辨率 ：0.1um

    測(cè)量速度：10 次/分（可調(diào)）

    測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

    接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）    注：薄膜、紙張任選一種

    進(jìn)樣步矩：0 ～ 1300 mm(可調(diào))

    進(jìn)樣速度 ：0 ～ 120 mm/s(可調(diào))

    外形尺寸：450mm×340mm×390mm

    重量：23kg

    應(yīng)用范圍：

     1、用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量；

     2、對(duì)金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測(cè)量；

     3、接觸式測(cè)試原理更有效的檢測(cè)出太陽能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值；

     4、通過調(diào)節(jié)測(cè)量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測(cè)試；