METTLER 差示掃描量熱儀 閃速DSC2+ 天平

METTLER 差示掃描量熱儀 閃速DSC2+；1.是目前市面上唯yi商用化的閃速DSC 2.相比于上一代產(chǎn)品，升降溫速率達(dá)到數(shù)量級提高。 3.寬廣的溫度范圍 — 執(zhí)行從-95到1000 ?C的測量 4.樣品直接放在MultiSTAR芯片傳感器上。獲得zuan利的動態(tài)功率補(bǔ)償控 制電路能夠在很高的加熱與冷卻速率條件下進(jìn)行測量，并且噪音水平極 小。

METTLER  差示掃描量熱儀  閃速DSC2+

1.是目前市面上唯yi商用化的閃速DSC 2.相比于上一代產(chǎn)品，升降溫速率達(dá)到數(shù)量級提高。 3.寬廣的溫度范圍 — 執(zhí)行從-95到1000 ?C的測量 4.樣品直接放在MultiSTAR芯片傳感器上。獲得zuan利的動態(tài)功率補(bǔ)償控 制電路能夠在很高的加熱與冷卻速率條件下進(jìn)行測量，并且噪音水平極 小。

Flash DSC 2+

Flash DSC 2+ 為快速掃描 DSC 帶來了歷史性變化。 該儀器可對以前無法測試的結(jié)構(gòu)重組過程進(jìn)行分析。 Flash DSC 2+ 是對傳統(tǒng) DSC 的*補(bǔ)充。 現(xiàn)在，升溫和降溫速率范圍已覆蓋超過 7 個(gè)數(shù)量級。

采用市售較快速的 DSC — 它是研究 –95 到 1000 °C 溫度范圍內(nèi)快速結(jié)晶和重組過程的*選擇。

 

它的升溫與降溫速率*，為研究熱致物理轉(zhuǎn)變和化學(xué)過程（如聚合物、金屬和其他材料的結(jié)晶與結(jié)構(gòu)重組）提供全新的視角。

 

 

超高升溫與降溫速率

        使用高升溫速率可在不受重組過程干擾的情況下分析材料，這是因?yàn)椴牧细緵]有時(shí)間，來不及出現(xiàn)此類過程。  閃速差示掃描量熱法還是研究結(jié)晶動力學(xué)的理想方法。

 

快速響應(yīng)傳感器

在 Flash DSC 2+ 中，樣品直接放在 MultiSTAR 芯片傳感器上。 使用獲得zuan利的動態(tài)功率補(bǔ)償控制電路，允許在很高的升溫與降溫速率條件下進(jìn)行測試，且噪音水平極小。 Flash DSC 2+ 可使用兩種 MultiSTAR 傳感器（UFS 1 或 UFH 1）中的任意一種進(jìn)行測試，它們被安裝在一個(gè)可以傳導(dǎo)電信號的穩(wěn)定陶瓷基材上。

 

METTLER  差示掃描量熱儀  閃速DSC2+