METTLER 超越系列折光率儀 R4 天平

METTLER 超越系列折光率儀 R4:“R4數(shù)字式折光率儀不僅性能出眾，而且操作簡單。 它采用了的溫控和全折射測量技術(shù)，讓精度和重復(fù)性得到了更進(jìn)一步的提升； One Click™用戶界面的觸摸屏和狀態(tài)指示讓操作非常直觀； 它還可以實(shí)現(xiàn)密度、折光率、色度和pH/電導(dǎo)率等多參數(shù)自動(dòng)測量，zui多可自動(dòng)測量高達(dá)303個(gè)樣品，可防止在單次分析之間樣品發(fā)生變化，提高處理量和自動(dòng)完成工作流程

METTLER 超越系列折光率儀 R4

超越系列折光率儀

One Click™ 一鍵折光率測定——精確、直觀、模塊化

準(zhǔn)確可靠的結(jié)果

超越系列折光率儀可測量多種具有挑戰(zhàn)性的樣品的折光率、白利糖度及更多參數(shù)，確保高度可靠性和精度，準(zhǔn)確度高達(dá) 5 位小數(shù)。

 

一鍵操作

配備直觀的 One Click 一鍵操作用戶界面的超大彩色觸摸屏可大限度減少培訓(xùn)工作量和操作人員的影響。只需按下屏幕上的快捷鍵即可開始分析。儀器狀態(tài)指示燈將向您直觀顯示其是準(zhǔn)備

就緒、忙碌還是正在等待操作人員介入。

 

立即獲得質(zhì)控結(jié)果

為樣品設(shè)置一系列限值范圍：在此范圍內(nèi)和超出此范圍的結(jié)果以不同顏色區(qū)分，可快速識(shí)別合格和被剔除的樣品。

 

無縫模塊化

折光率與密度通常在同一樣品中測定出來。我們設(shè)計(jì)緊湊的測量系統(tǒng)允許您將密度計(jì)同折光率模塊相結(jié)合，從而一次性測量這兩種參數(shù)。

 

設(shè)計(jì)簡約性能出眾

我們直觀的超越系列折光率儀專為多種應(yīng)用而開發(fā)，可勝任幾乎任何樣品的準(zhǔn)確測量。儀器具有的準(zhǔn)確度與重復(fù)性，并可通過以下方案進(jìn)一步增強(qiáng)性能：

? 適用于各類樣品（包括高粘度樣品）的功能強(qiáng)大的自動(dòng)進(jìn)樣器

? 同時(shí)測定折光率、密度、pH 值/電導(dǎo)率與色度

? 符合 21 CFR Part 11 法規(guī)要求的 LabX 電腦軟件

? 多種選配件

不僅僅是折光率儀

節(jié)省時(shí)間與提高數(shù)據(jù)質(zhì)量：超越系列折光率儀可升級(jí)為集折光率、密度、pH、色度、滴定等于一身的多參數(shù)自動(dòng)測量系統(tǒng)，可防止在單次分析之間樣品發(fā)生變化，提高處理量和自動(dòng)完成工作流程，同時(shí)確保每次以相同方式執(zhí)行所有步驟。

技術(shù)參數(shù)

儀器與選配件

METTLER 超越系列折光率儀 R4