應(yīng)變測(cè)試儀 EL-210

EL系列應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀（應(yīng)變測(cè)試儀 EL-210）是針對(duì)印刷電路板應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試應(yīng)用所進(jìn)行設(shè)計(jì)的儀器。設(shè)備輕巧、便攜；可直接和應(yīng)變片相連；允許120Ω或350Ω的1/4橋接入；每通道采樣速率可達(dá)10k-500kHz（由選配板卡決定）；每通道同時(shí)使用抗混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進(jìn)行采樣；提供高速型USB接口；主機(jī)支持多款模塊；符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)的要求。

應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀

一、簡(jiǎn)述

EL系列應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀（應(yīng)變測(cè)試儀 EL-210）是針對(duì)印刷電路板應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試應(yīng)用所進(jìn)行設(shè)計(jì)的儀器，可測(cè)試項(xiàng)目包括：錫球破裂、布線損毀、焊盤分離和基板分離等。提供實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)監(jiān)控，避免測(cè)試過程中出現(xiàn)故障。

二、應(yīng)用

    應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀（應(yīng)變測(cè)試儀 EL-210）廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品等領(lǐng)域的測(cè)試，通過應(yīng)變、應(yīng)變速率上的客觀分析，為蘋果、華為、格力、美的等客戶的電路板工藝優(yōu)化提供了重要依據(jù)。

 

三、特點(diǎn)

1.設(shè)備輕巧、便攜

2.可直接和應(yīng)變片相連

3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入

4.每通道采樣速率可達(dá)10k-500kHz（由選配板卡決定）

5.每通道同時(shí)使用抗混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進(jìn)行采樣

6.提供高速型USB接口

7.主機(jī)支持多款模塊

8.符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)的要求

四、參數(shù)

1.測(cè)量類別：應(yīng)變

2.測(cè)量對(duì)象：120Ω應(yīng)變片

3.測(cè)量范圍：±55000με

4.通道數(shù)：8通道或16通道

5.每通道采樣率：10k-500kHz（由選配板卡決定）

6.AD分辨率：24bit

7.精度：±0.02%

8重量：0.8-3.5kg

9.環(huán)境溫度：-40℃-70℃

10.環(huán)境濕度：10%-90%

11.接口：USB2.0

12.輸入電壓：100VAV-240VAC

 

• 儀器說明

1.EL-110可配64個(gè)通道，重量3.5kg，尺寸：260*105*104mm

2.EL-210可配32個(gè)通道，重量2.2kg，尺寸：163*105*102mm

3.EL-310可配8個(gè)通道，重量0.8kg，尺寸：145*105*104mm

 

六、軟件介紹

1.具備一鍵輸出報(bào)告功能，報(bào)告符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)

2.支持多種語言，如英文、中文

3.提供diagonal strain、Max/Min principal strain、strain rate、Qstrain等數(shù)據(jù)分析