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奧集貝科(廣東)科技有限公司
參 考 價 | 面議 |
產品型號TOS7210S
品 牌其他品牌
廠商性質經銷商
所 在 地深圳市
聯(lián)系方式:楊黎查看聯(lián)系方式
更新時間:2020-07-23 10:59:41瀏覽次數:405次
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自動化程度 | 全自動 |
現貨日本菊水絕緣電阻測試儀深圳經銷商
PID絕緣測試儀(TOS7210S)是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID現象進行評估,
以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎設計而成的測試儀,
可在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范圍內實施設定,
絕緣電阻試驗測量范圍:0.01MΩ——5000MΩ
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PID絕緣測試儀(TOS7210S)是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID現象進行評估,
以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎設計而成的測試儀,
可在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范圍內實施設定,
絕緣電阻試驗測量范圍:0.01MΩ——5000MΩ(DC50V——2000V)
0.000μA——1900μA(DC50V——2000V)
標配RS-232C接口
型號 | 規(guī)格 |
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TOS7210S (SPEC80776) | PID絕緣測試儀(TOS7210S)是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估, 以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎設計而成的測試儀, 可在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范圍內實施設定, 可通過面板側的開關即時切換施加電壓極性, 輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài), 只測量通過測量點間的電流. 可對電流測量值或電阻測量值進行切換顯示, 測試線(TL51-TOS) |
PID絕緣測試儀(TOS7210S)是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估,以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎設計而成的測試儀。
附有極性切換功能,輸出電壓可達2000V,同時裝載了n*分辨率的電流表,因此不僅可以進行PID評估,還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標準安裝了可從外部調用的面板存儲器及RS232C接口,因此也可以靈活對應自動化系統(tǒng)。
什么是PID現象?
PID現象是指太陽能電池與邊框*被施以高電壓,電池發(fā)電量顯著降低的現象。目前認為所施加的電壓越高,越是在高溫、高濕的環(huán)境下劣化現象越嚴重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數十V,一旦直接連接的片數增加,串內的電位差將變得非常高。一方面,PCS(Power Conditioning System)作為交流電源與系統(tǒng)相連,使接地形態(tài)發(fā)生變化。輸入端采用浮接(一側電極不能接地線)的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發(fā)生高電位差?,F在可明確的是,晶體硅太陽能電池模塊中,相對于邊框(接地線)負極電位高的電池容易發(fā)生PID現象。(請參照圖1)目前,日本國內以600V、歐洲以1000V的系統(tǒng)電壓運行太陽能電池模塊,但是目前出現了提高系統(tǒng)電壓以削減企業(yè)用大規(guī)模太陽能發(fā)電系統(tǒng)的串數、PCS總數,提高發(fā)電效率的趨勢。
圖2模擬了晶體硅太陽能電池模塊的處于高電位差的狀況。邊框為正極電位、模塊電路處于負*電位的狀況。目前認為是由于超白鋼化玻璃內的鈉離子向電池側遷移而引起劣化。(薄膜太陽能電池模塊也被確認出現PID現象,但是發(fā)生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同。)現在,各種研究機構正在通過研究、試驗查找PID現象的原因。
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