高精度薄膜測厚儀思克

高精度薄膜測厚儀思克

高精度薄膜測厚儀思克應(yīng)用范圍

適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

高精度薄膜測厚儀思克主要特點

接觸式測量原理

進(jìn)口測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機(jī)交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式

測試過程全自動完成

本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機(jī)，可自動打印單次、統(tǒng)計報告

配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口

可支持DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）

高精度薄膜測厚儀思克技術(shù)指標(biāo)

測量范圍：0～2mm（標(biāo)配）

                   0～10mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測量速度：1~25次/min（可調(diào)）

測 量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）

                  紙張：200mm2，50±1kPa（可選）         

電    源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

凈    重：38kg 

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知