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詳細(xì)介紹
特點(diǎn)使用調(diào)頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統(tǒng)模式的二十分之一
在空氣和液體環(huán)境中也能達(dá)到超高真空原子力顯微鏡的分辨率
現(xiàn)有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調(diào)幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調(diào)頻模式(frequency modulation) 可以達(dá)到更高的分辨率。
| SPM | ： | 掃描探針顯微鏡 |
| AFM | ： | 原子力顯微鏡 |
| AM | ： | 調(diào)幅模式 |
| FM | ： | 調(diào)頻模式 |
與現(xiàn)有SPM/AFM的區(qū)別
注: KPFM需要特定的基底。
KPFM: 掃描開爾文顯微鏡
引用文獻(xiàn)：
Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).
FM模式原理
在動(dòng)態(tài)模式下，測(cè)量懸臂的振動(dòng)頻率，從而測(cè)得懸臂和樣品間的相互作用力。具體來說，為了使懸臂的頻率偏移(△f)保持一定，讓懸臂在非接觸狀態(tài)下運(yùn)動(dòng)。與以往相比，對(duì)力的檢測(cè)靈敏度提高了20倍以上，因此圖像的分辨率也大大提升。
*外觀及規(guī)格如有更改，恕不另行通知。
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