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詳細(xì)介紹
推出的美國Solarius Pioneer 3D共聚焦顯微系統(tǒng)以納米級(jí)精度滿足復(fù)雜結(jié)構(gòu)表面的各種測(cè)試要求，。
●納米級(jí)高精度，高分辨率
●高質(zhì)量原始數(shù)據(jù)
●MPD共聚焦核心技術(shù)
●符合ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量（同時(shí)支持GB/T，DIN，NF，JIS等）
●非接觸式無損光學(xué)測(cè)量
●
●穩(wěn)定性好，免維護(hù)
相關(guān)應(yīng)用：對(duì)材料/產(chǎn)品/工件做表面非接觸式三維形貌掃描，分析2D/3D表面形貌、輪廓幾何尺寸（長(zhǎng)度、寬度、深度、角度、面積、體積等）、表面粗糙度、平整度、翹曲、曲率、面形精度、摩擦磨損及腐蝕等參數(shù)指標(biāo)。
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