波譜校正片,牛津校正片

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920  、 CMI900 波譜校正片

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列，屬于X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x，廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測(cè)量、材料分析；是各類電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測(cè)量的理想檢測(cè)工具。

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列具有高性價(jià)價(jià)比，有著非破壞、非接觸、多合金測(cè)量、測(cè)量元素范圍廣、測(cè)量精準(zhǔn)、測(cè)量時(shí)間短等特點(diǎn)；具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約電鍍成本。

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920工作特點(diǎn)：

• 測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好，測(cè)量結(jié)果精確至μin
• 快速無(wú)損測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短，10秒內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果
• 可定性、半定量和定量分析
• 進(jìn)行貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
• 材料鑒別和分類檢測(cè)，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析
• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
• 結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件；報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等
• 測(cè)量位置預(yù)覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍
• 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能；單擊鼠標(biāo)，Z軸自動(dòng)掃描，鐳射聚焦