臺(tái)式偏光應(yīng)力儀PSV-202

臺(tái)式偏光應(yīng)力儀 PSV-202

PSV-202應(yīng)力測(cè)試儀應(yīng)用范圍廣泛,該儀器可以對(duì)玻璃和塑料配件進(jìn)行檢測(cè)，大多運(yùn)用于品控。PSV-202有足夠大的使用空間供各種產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量過(guò)程中，主要通過(guò)手持被測(cè)物體在偏光下進(jìn)行觀察測(cè)量。

適用范圍：

1.適合于檢測(cè)透明的及復(fù)雜結(jié)構(gòu)的玻璃及藍(lán)寶石產(chǎn)品。

2.適合于檢測(cè)透明的塑料產(chǎn)品等。

參數(shù)規(guī)格：

1.型號(hào):PSV-202

2.起偏鏡：200*200mm

3.檢偏鏡：直徑100mm

4.測(cè)量高度：236mm

5.產(chǎn)品尺寸：300*280*330mm

6.電壓：220v

7.重量：8KG   

操作守則

    玻璃和塑料產(chǎn)品的應(yīng)力具有雙折射特性。也就是說(shuō)，這類產(chǎn)品的應(yīng)力可以把偏光燈的每一種光線分為不同的組成單位，這些單位依次產(chǎn)生光學(xué)干涉現(xiàn)象即波紋圖案。 

    在白光燈下，這種圖案是由彩色波紋組成，而彩色的圖案是應(yīng)力作用產(chǎn)生的，從被測(cè)樣品的圖案差別可以觀測(cè)出兩種主要應(yīng)力。

PSV-202通過(guò)對(duì)干涉紋和顏色的觀察，來(lái)衡量退火前/后玻璃制品的應(yīng)力情況，進(jìn)而衡量退火設(shè)備的工作情況。（合格標(biāo)準(zhǔn)一般由生產(chǎn)商來(lái)制定）

對(duì)塑料模具的檢測(cè)則更加復(fù)雜，盡管檢測(cè)圖案也是應(yīng)力作用產(chǎn)生的，但不規(guī)則。玻璃產(chǎn)品也會(huì)出現(xiàn)類似的情況，這被叫作應(yīng)力拉伸現(xiàn)象。例如，一個(gè)合格的模具，會(huì)大量存在拉伸釋放的應(yīng)力。

全波盤的作用：

在檢測(cè)玻璃樣品時(shí)，如果不使用全波盤，通常只能看見黑色或灰影圖案。全波盤則增加或減少了一個(gè)相位差的全波長(zhǎng)，從而形成彩色圖案，更容易推理和分析。

臺(tái)式偏光應(yīng)力儀 PSV-202

PSV-202應(yīng)力測(cè)試儀應(yīng)用范圍廣泛,該儀器可以對(duì)玻璃和塑料配件進(jìn)行檢測(cè)，大多運(yùn)用于品控。PSV-202有足夠大的使用空間供各種產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量過(guò)程中，主要通過(guò)手持被測(cè)物體在偏光下進(jìn)行觀察測(cè)量。

適用范圍：

1.適合于檢測(cè)透明的及復(fù)雜結(jié)構(gòu)的玻璃及藍(lán)寶石產(chǎn)品。

2.適合于檢測(cè)透明的塑料產(chǎn)品等。

參數(shù)規(guī)格：

1.型號(hào):PSV-202

2.起偏鏡：200*200mm

3.檢偏鏡：直徑100mm

4.測(cè)量高度：236mm

5.產(chǎn)品尺寸：300*280*330mm

6.電壓：220v

7.重量：8KG   

操作守則

    玻璃和塑料產(chǎn)品的應(yīng)力具有雙折射特性。也就是說(shuō)，這類產(chǎn)品的應(yīng)力可以把偏光燈的每一種光線分為不同的組成單位，這些單位依次產(chǎn)生光學(xué)干涉現(xiàn)象即波紋圖案。 

    在白光燈下，這種圖案是由彩色波紋組成，而彩色的圖案是應(yīng)力作用產(chǎn)生的，從被測(cè)樣品的圖案差別可以觀測(cè)出兩種主要應(yīng)力。

PSV-202通過(guò)對(duì)干涉紋和顏色的觀察，來(lái)衡量退火前/后玻璃制品的應(yīng)力情況，進(jìn)而衡量退火設(shè)備的工作情況。（合格標(biāo)準(zhǔn)一般由生產(chǎn)商來(lái)制定）

對(duì)塑料模具的檢測(cè)則更加復(fù)雜，盡管檢測(cè)圖案也是應(yīng)力作用產(chǎn)生的，但不規(guī)則。玻璃產(chǎn)品也會(huì)出現(xiàn)類似的情況，這被叫作應(yīng)力拉伸現(xiàn)象。例如，一個(gè)合格的模具，會(huì)大量存在拉伸釋放的應(yīng)力。

全波盤的作用：

在檢測(cè)玻璃樣品時(shí)，如果不使用全波盤，通常只能看見黑色或灰影圖案。全波盤則增加或減少了一個(gè)相位差的全波長(zhǎng)，從而形成彩色圖案，更容易推理和分析。