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日立紫外可見近紅外分光光度計(jì)UH4150

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海萊??茖W(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2020/10/15 0:28:49
  • 訪問次數(shù)377
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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上海萊??茖W(xué)儀器有限公司自成立以來,始終恪守“激.情,奮進(jìn),責(zé)任”的理念,以誠信的經(jīng)營之道贏得客戶的信任。公司設(shè)在上海,通過與分銷伙伴的緊密合作,公司在不斷的快速發(fā)展之中,致力于為客戶提供專業(yè)、方便、快捷的本地化服務(wù)。多年來,公司依托生命與化學(xué)事業(yè)部,電子事業(yè)部,并與Agilent,Thermo, Spectro,Tektronix,F(xiàn)luke,Waters,Keithley等公司良好的合作關(guān)系,為用戶提供優(yōu)良品質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室儀器、設(shè)備,到為客戶度身定制系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室整體解決方案,通過專業(yè)、細(xì)致和全面的服務(wù)實(shí)現(xiàn)“為客戶創(chuàng)造更多價值”的承諾。我們所提供的產(chǎn)品和服務(wù)被廣泛應(yīng)用于工業(yè)電子制造、文教科研院所、通信以及信息技術(shù)、生物制藥實(shí)驗(yàn)室、石油、政府檢測機(jī)構(gòu)、煙草、食品、生命科學(xué)等多種領(lǐng)域。展望將來,公司將會引進(jìn)更多的化學(xué)和電子的分析和測試的儀器,為客戶提供測試測量技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品配套、維修、租賃、第三方儀器設(shè)備外包管理、采購管理等。并將更多專業(yè)的應(yīng)用技術(shù)滲透到日常服務(wù)中去,更便捷、更周到地滿足客戶需求。對萊睿公司而言,客戶需要的正是我們所追求的,是我們孜孜以求的坐標(biāo)和不斷超越的動力!在未來激烈多變的市場競爭中,萊睿將與客戶一起攜手并進(jìn),共創(chuàng)輝煌!
光譜儀
日立紫外可見近紅外分光光度計(jì)UH4150是積分球分光光度計(jì)產(chǎn)品專家,較適合半導(dǎo)體、光學(xué)元件、新型材料的光譜性能研究,是功能強(qiáng)勁的分光光度系統(tǒng)。UH4150是較適合固體、液體和渾濁樣品測試的高性能系統(tǒng)。
日立紫外可見近紅外分光光度計(jì)UH4150 產(chǎn)品信息

日立紫外可見近紅外分光光度計(jì)UH4150技術(shù)特點(diǎn):

(1)切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測定。

由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等,將檢測器切換時(信號水平的差異)吸光度值的變化降到小。

(2)日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振。

棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測定。

(3)平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測定。

平行光束,相對于樣品入射角始終相同,實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外,平行光束可用于擴(kuò)散率(霧度)的評價和透鏡透過率的測定。

(4)可提供適合不同測定目的的多種檢測器。

 可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球

(5)采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)。

改進(jìn)樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。

(6)兼容多種U-4100附件。

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸,適合更多的測定類型。

(7)比U-4100型更高的樣品通量。

UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測定,顯著縮短測定時間。

 

日立紫外可見近紅外分光光度計(jì)UH4150應(yīng)用領(lǐng)域:

 

液體、渾濁液體、固體均可適用??蓪?shí)現(xiàn)包括粉末、玻璃、光學(xué)薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學(xué)、電子設(shè)備材料的吸收/透過率/反射率的無損測試。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、光電設(shè)備、新型材料的光譜性能研究,獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數(shù)據(jù)。

關(guān)鍵詞:紅外分光光度計(jì)
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