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大功率IGBT測(cè)試設(shè)備

參考價(jià) 60000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)深圳市華科智源科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)HUSTEC-1600A-MT
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2020/10/20 17:09:28
  • 訪問(wèn)次數(shù)596
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   深圳市華科智源科技有限公司,是一家專(zhuān)業(yè)從事功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測(cè)試分析服務(wù)的*,坐落于改革開(kāi)放之都-中國(guó)深圳,核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測(cè)準(zhǔn)備研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要涉及SMT*檢測(cè)儀,MOS管直流參數(shù)測(cè)試儀,MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,在線式檢修用IGBT測(cè)試儀,變頻器檢修用IGBT測(cè)試儀,IGBT模塊測(cè)試儀,軌道交通檢修用IGBT測(cè)試儀,風(fēng)力發(fā)電檢修用IGBT測(cè)試儀,產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測(cè)試范圍等競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì),將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計(jì)、制造、封裝廠商及高校研究所等;
    華夏神州,科技興國(guó),智能創(chuàng)新,源遠(yuǎn)流長(zhǎng);華科智源公司 核心團(tuán)隊(duì)由華中科技大學(xué)等國(guó)內(nèi)高校研究所、行業(yè)應(yīng)用專(zhuān)家等技術(shù)人才組建,致力于中國(guó)功率半導(dǎo)體事業(yè),積極響應(yīng)國(guó)家提出的中國(guó)制造2025戰(zhàn)略,投身于半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。
    深圳華科智源科技有限公司-,功率器件測(cè)試方案供應(yīng)商,2025中國(guó)制造 • 芯片設(shè)計(jì)及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來(lái)料選型。

首件檢測(cè)儀,首件檢測(cè)系統(tǒng),SMT智能首件檢測(cè)儀,首樣檢測(cè),首板確認(rèn)
產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 Introducion

大功率IGBT測(cè)試設(shè)備HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件參數(shù)測(cè)試儀,可用于IGBT單管及模塊,SIC器件,MOS管,二極管等功率器件的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。
大功率IGBT測(cè)試設(shè)備 產(chǎn)品信息

HUSTEC-1600A-MT

大功率IGBT測(cè)試設(shè)備

Power Device Static Parameter Tester

 

大功率IGBT測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品簡(jiǎn)介  Introducion

  HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件參數(shù)測(cè)試儀,可用于IGBT單管及模塊,SIC器件,MOS管,二極管等功率器件的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。


產(chǎn)品測(cè)試電流電壓為1600A,±5000V,向下兼容,可升級(jí)到3KA/10KV.

VGE可達(dá)±100V;開(kāi)啟電壓VGETH支持兩種測(cè)試方法;

采用插槽式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),便于升級(jí)和維護(hù);

設(shè)備支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT單管及模塊,二極管測(cè)試,晶閘管測(cè)試,

自動(dòng)進(jìn)行分檔測(cè)試,既覆蓋大功率特征下的測(cè)試范圍,又可保證小功率器件測(cè)試精度

支持單點(diǎn)測(cè)試,I-V曲線掃描,還具有曲線對(duì)比功能;同一規(guī)格型號(hào),不同批次的產(chǎn)品曲線對(duì)比,同一規(guī)格,不同廠家之家的產(chǎn)品曲線對(duì)比

開(kāi)放通訊接口,可以連接探針臺(tái)做wafer / chip 測(cè)試,也可以連接HANDLE,夾具及適配器做模塊測(cè)試,

測(cè)試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件,WORD報(bào)告

技術(shù)指標(biāo) Technical Specifications

技術(shù)指標(biāo)

3.4

VGE(th)柵極閾值電壓

VGE:0.1~10V±1%±0.01V;

 

3.5

VGE(th)

測(cè)試條件與精度

集電極電流Ic:

10~50mA±1%±0.5mA;

50~200mA±1%±1mA;

200~1000mA±1%±2mA;

3.6

VCES集射極截止電壓

VCES:0-5000V±1%±2V;

 

3.7

VCES

測(cè)試條件與精度

集電極電流ICES:

0.01~1mA±3%±0.001mA;

1~10mA±2%±0.01mA;

10~50mA±1%±0.1mA;

3.8

ICES集射極截止電流

集電極電流ICES:0.01~50mA

0.001~1mA±3%±0.001mA;

1~10mA±2%±0.01mA;

10~50mA±1%±0.1mA;

 

3.9

ICES

測(cè)試條件與精度

集電極電壓VCES:50~500V±1%±1V;

500~5000V±1%±2V;

3.10

VCE(sat)飽和導(dǎo)通壓降

集電極電壓VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V

 

3.11

VCE(sat)

測(cè)試條件與精度

 

柵極電壓Vge:5~40V±1%±0.01V

集電極電流ICE:0-1600A

0~100A±1%±1A;

100~1600A±1%±1A;

3.12

Iges柵極漏電流

柵極漏電流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA

 

3.13

Iges測(cè)試條件與精度

柵極電壓Vge:±1V~100V±1%±0.1V;Vce=0V;

3.14

VF正向特性測(cè)試

二極管導(dǎo)通電壓Vf:0.1~10V±1%±0.01V

 

3.15

VF正向特性測(cè)試

測(cè)試條件與精度

電流IF:0~100A±2%±1A;

100~1600A±1%±2A;

 

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