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雪崩能量測(cè)試儀廠家 華科智源

參考價(jià) 60000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市華科智源科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)TC57300
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2020/10/23 15:36:00
  • 訪問次數(shù)533
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   深圳市華科智源科技有限公司,是一家專業(yè)從事功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測(cè)試分析服務(wù)的*,坐落于改革開放之都-中國(guó)深圳,核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測(cè)準(zhǔn)備研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要涉及SMT*檢測(cè)儀,MOS管直流參數(shù)測(cè)試儀,MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,在線式檢修用IGBT測(cè)試儀,變頻器檢修用IGBT測(cè)試儀,IGBT模塊測(cè)試儀,軌道交通檢修用IGBT測(cè)試儀,風(fēng)力發(fā)電檢修用IGBT測(cè)試儀,產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測(cè)試范圍等競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì),將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計(jì)、制造、封裝廠商及高校研究所等;
    華夏神州,科技興國(guó),智能創(chuàng)新,源遠(yuǎn)流長(zhǎng);華科智源公司 核心團(tuán)隊(duì)由華中科技大學(xué)等國(guó)內(nèi)高校研究所、行業(yè)應(yīng)用專家等技術(shù)人才組建,致力于中國(guó)功率半導(dǎo)體事業(yè),積極響應(yīng)國(guó)家提出的中國(guó)制造2025戰(zhàn)略,投身于半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。
    深圳華科智源科技有限公司-,功率器件測(cè)試方案供應(yīng)商,2025中國(guó)制造 • 芯片設(shè)計(jì)及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來料選型。

首件檢測(cè)儀,首件檢測(cè)系統(tǒng),SMT智能首件檢測(cè)儀,首樣檢測(cè),首板確認(rèn)
產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
雪崩能量測(cè)試儀廠家 華科智源ITC55100雪崩能量測(cè)試儀是原成功產(chǎn)品ITC5510的升級(jí)版本,它能執(zhí)行ITC5510系列的所有測(cè)試,同時(shí)增加了許多功能,如提高測(cè)試精度,測(cè)試結(jié)果的收集,查看測(cè)試結(jié)果,連接多個(gè)被測(cè)品。ITC55100可以用來對(duì)功率MOSFET和IGBT的耐用性測(cè)試。 它還能測(cè)試單,雙二極管,使用ITC55 RSF輸出選擇器盒還可以測(cè)量IGBT的正向和反向偏置。
雪崩能量測(cè)試儀廠家 華科智源 產(chǎn)品信息

雪崩能量測(cè)試儀廠家ITC55100雪崩能量測(cè)試儀是原成功產(chǎn)品ITC5510的升級(jí)版本,它能執(zhí)行ITC5510系列的所有測(cè)試,同時(shí)增加了許多功能,如提高測(cè)試精度,測(cè)試結(jié)果的收集,查看測(cè)試結(jié)果,連接多個(gè)被測(cè)品。ITC55100可以用來對(duì)功率MOSFET和IGBT的耐用性測(cè)試。 它還能測(cè)試單,雙二極管,使用ITC55 RSF輸出選擇器盒還可以測(cè)量IGBT的正向和反向偏置。

雪崩能量測(cè)試儀廠家HUSTEC2020 雪崩耐量測(cè)試系統(tǒng)功能指標(biāo):

配置

測(cè)試范圍

測(cè)試參數(shù)

條件

范圍

電壓
1000V

IGBTs
絕緣柵雙極型晶體管

EAS/單脈沖雪崩能量

VCE

20V~4500V

20~100V±3%±1V
100~1000V±3%±5V 
1000V~4500V±3%±10V

電流
200A

MOSFETs
MOS場(chǎng)效應(yīng)管

EAR/重復(fù)脈沖雪崩能量

Ic

1mA~200A

1mA~100mA±3%±0.1mA
100mA~2A±3%±5mA 
2A~200A±3%±50mA

 

DIODEs
二極管

IAS/單脈沖雪崩電流

Ea

1J~2000J

1J~100J±3%±1J
100J~500J±3%±5J 
500J~2000J±3%±10J

  

PAS/單脈沖雪崩功率

IC檢測(cè)

50mV/A(取決于傳感器)

   

感性負(fù)載

10mH、20mH、40mH、80mH、160mH、

   

重復(fù)間隙時(shí)間

1~60s可調(diào)(步進(jìn)1s) 重復(fù)次數(shù):1~50次

 

測(cè)試模式

單脈沖松開電感的開關(guān)(UIS)

單脈沖雪崩應(yīng)力(EAS)

重復(fù)性雪崩能量(EAR)

重復(fù)脈沖故障(RPF)

 

執(zhí)行的測(cè)試

連續(xù)性測(cè)試裝置的插座和/或接觸

DC零柵極偏置漏 - 源泄漏測(cè)試

- 前,后的雪崩

功能設(shè)備測(cè)試

雪崩測(cè)試

關(guān)鍵詞:傳感器
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